 |
 |
|
 |
| EN |
|
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
Информация
|
Статьи КИПиС
Автор(ы):
Афонская Т.Д., Афонский А.А.
Номер журнала:
КИПиС 2011 № 3
2-5 Мая 2011 г. в Силиконовой долине в Сан Хосе (San Jose, Silicone Valley, California, USA) прошла выставка и конференция Embedded Systems Conference. Из данной статьи Вы узнаете о самых интересных моментах мероприятия.
Автор(ы):
Брянский Л.Н.
Номер журнала:
КИПиС 2011 № 2
Для многих, два эпохальных события: принятие метрической системы мер и метрической конвенции, почти неразличимы, сливаются в единый гигантский шаг в развитии мерологии. Однако это не совсем так. Из данной статьи читатель узнает о глобальных событиях, произошедших между возникновением метрической системы и принятием Метрической Ковенции, и оказавшими значительное влияние на метрологию в целом.
Номер журнала:
КИПиС 2011 № 2
В статье приводится сравнительный анализ возможностей интернета и конгрессно-выставочных мероприятий в установлении новых контактов и укреплении существующих деловых отношений в B2B сегменте.
Автор(ы):
Афонская Т.Д., Афонский А.А.
Номер журнала:
КИПиС 2011 № 2
В конце сентября 2010 года было объявлено о приобретении Keithley компанией Tektronix. Каковы были предпосылки для этого события? Как будет осуществляться дальнейшая деятельность Keithley? Читайте ответы на эти и другие вопросы в интерьвью с Линдой Рей (Linda Rae), Исполнительным вице-президентом и главным операционным директором компании Keithley Instruments.
Автор(ы):
Деннис Уеллер (Dennis Weller)
Номер журнала:
КИПиС 2011 № 2
В данной статье описаны методы тестирования компонентов с помощью осциллографа и генератора сигналов. Показана методика тестирования конденсаторов, индуктивностей, диодов, биполярных транзисторов и кабелей. Кроме того, описанные методы можно использовать для поиска неисправных компонентов или определения номиналов немаркированных компонентов.
Номер журнала:
КИПиС 2011 № 2
Двадцать лет назад осциллографы начали широко применяться не только в лабораторных, но и в полевых условиях. С тех пор переносные приборы стали легче, прочнее и удобнее в использовании в сложных рабочих условиях, например на портале подъемного крана или в производственных помещениях. В данной статье рассказывается о новом четырехканальном портативном осциллографе компании Fluke.
Автор(ы):
Флориан Рамиан (Dr. Florian Ramian)
Номер журнала:
КИПиС 2011 № 2
Скорость измерений, доступная сегодня в анализаторах спектра, является результатом длительного развития измерительных технологий. В данной статье описана реализация возможностей анализатора R&S FSVR по проведению анализа сигналов в реальном масштабе времени. Описаны как области применения, так и технические особенности реализации этих возможностей.
Номер журнала:
КИПиС 2011 № 2
В данной статье описаны возможности нового векторного анализатора сигналов в формате PXIe компании National Instruments, а также преимущества его применения для анализа РЧ сигналов.
Автор(ы):
Афонский А.А.
Номер журнала:
КИПиС 2011 № 2
Развитие цифровых технологий дало толчок производству более быстродействующих электронных компонентов. Благодаря усовершенствованным ЦАП, увеличивающимся быстродействию и разрешению, а также снижающейся себестоимости, цифровые генераторы все более активно вытесняют аналоговые генераторы. Проанализировав меняющиеся тенденции на рынке измерительной техники, осенью 2010 года Актаком представил сразу четыре новых серии цифровых генераторов DDS. Их возможности и характеристики описаны в данной статье.
Автор(ы):
Дин Майлс (Dean Miles)
Номер журнала:
КИПиС 2011 № 2
В настоящее время радиочастотные сигналы становятся всё более и более сложными. Для их исследования требуются измерительные приборы, с помощью которых можно осуществлять контроль в реальном времени и в широком диапазоне частот. Описанные в данной статье анализаторы сигналов реального времени позволяют проводить анализ сигналов со скачкообразной перестройкой частоты, импульсных характеристик, переключения модуляции, времени установления сигнала, изменения ширины спектра, а также нестационарных сигналов.
При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна. Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь. |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
26.12.1791
Родился английский математик, изобретатель первой аналитической вычислительной машины
|
