В данной статье описаны методы тестирования компонентов с помощью осциллографа и генератора сигналов. Показана методика тестирования конденсаторов, индуктивностей, диодов, биполярных транзисторов и кабелей. Кроме того, описанные методы можно использовать для поиска неисправных компонентов или определения номиналов немаркированных компонентов.