Тестирование компонентов с помощью осциллографа со встроенным генератором сигналов

В данной статье описаны методы тестирования компонентов с помощью осциллографа и генератора сигналов. Показана методика тестирования конденсаторов, индуктивностей, диодов, биполярных транзисторов и кабелей. Кроме того, описанные методы можно использовать для поиска неисправных компонентов или определения номиналов немаркированных компонентов.
Автор(ы): Деннис Уеллер (Dennis Weller)
Номер журнала: КИПиС 2011 № 2
Читать в PDF: Читать