 |
 |
|
 |
| EN |
|
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
Информация
|
Статьи КИПиС
Автор(ы):
Ами Тели (Ami Teli)
Номер журнала:
КИПиС 2013 № 3
Последнее десятилетие характеризуется увеличением потребительского спроса на электронику с расширенной функциональностью — от смартфонов до планшетных компьютеров. Это вызывает проблемы при тестировании комплектующих как для компаний-изготовителей подобной электроники, так и для изготовителей самих комплектующих. А поскольку смена моделей электронных устройств теперь происходит значительно быстрее, то для измерения их характеристик и тестирования требуются новые алгоритмы или процедуры. Часто это означает, что измерительные приборы, использовавшиеся для снятия ВАХ в прошлом году, в этом году могут оказаться уже непригодными. Ответом на эти непрерывные изменения стал ряд новых тенденций, направленных на создание измерительных приборов, способных быстро адаптироваться к вновь разрабатываемым процедурам испытаний.
Автор(ы):
Афонский А.А.
Номер журнала:
КИПиС 2013 № 3
В данной статье рассматриваются ручные модели измерителей RLC АКТАКОМ. Наши читатели уже знакомы с ручными моделями измерителей RLC АКТАКОМ. Но, за прошедшие 6 лет, модельный ряд ручных моделей измерителей RLC АКТАКОМ существенно обновился и у приборов появились новые интересные возможности.
Номер журнала:
КИПиС 2013 № 2
Для контроля технологических процессов на промышленных объектах и оперативного принятия решений часто требуется производить измерения различных параметров одновременно в нескольких точках и в реальном времени оценивать результаты измерений. Промышленные процессы при этом не должны прерываться, а оборудование должно функционировать в рабочем режиме. Задача усложняется, если точки измерений или возникновения возможных неисправностей находятся в труднодоступных или опасных местах, на объектах с ограниченным доступом, в стерильных помещениях или там, где присутствие человека
Автор(ы):
Ли Стауфер (Lee Stauffer)
Номер журнала:
КИПиС 2013 № 2
С недавних пор повсеместное стремление к повышению энергоэффективности заставляет производителей повышать качество силовых полупроводниковых приборов, таких как диоды, полевые транзисторы (ПТ), биполярные транзисторы с изолированным затвором (БТИЗ) и т. д. Новые технологии обещают улучшение характеристик — уменьшение потерь в открытом состоянии и меньшую утечку в закрытом состоянии, повышение скорости переключения и уменьшение коммутационных потерь. Однако чем лучше становятся характеристики этих п/п приборов, тем сложнее их измерять. В этой статье я сначала опишу типичный процесс разработки силовых п/п приборов, а затем мы обсудим некоторые проблемы, связанные с измерением их характеристик и необходимым для этого оборудованием.
Номер журнала:
КИПиС 2013 № 2
Инженеры-разработчики ВЧ- и СВЧ-устройств давно стали считать векторный анализатор цепей (vector network analyzer) незаменимым для автоматизированной отладки прототипов ВЧ-устройств и автоматизированного тестирования при серийном производстве. Серьезность, с которой инженеры-разработчики подходят к выбору анализаторов цепей, неудивительна. Стоимость высокопроизводительного анализатора часто является крайне высокой, в связи с этим инженерам приходится месяцами или даже годами добиваться от руководства одобрения на покупку этого прибора.
Номер журнала:
КИПиС 2013 № 2
В аэрокосмической и оборонной отраслях и системах беспроводной связи имеется множество проблем, которые чрезвычайно затрудняют определение параметров систем и поиск неисправностей. Так, к примеру, радиолокационные системы и системы радиоэлектронной борьбы становятся все более динамичными и мобильными, при этом они способны охватывать огромное пространство над полем боя. Распространение многоформатных систем связи с высокими скоростями передачи данных повышает вероятность возникновения проблем совместимости.
Автор(ы):
Матиас Хельвиг (Mathias Hellwig), Рафаэль Руйц (Rafael Ruiz)
Номер журнала:
КИПиС 2013 № 2
В данной статье рассматривается опция программного I/Q-интерфейса R&S®RTO-K11 цифрового осциллографа R&S®RTO с точки зрения его использования в среде MathWorks MATLAB®. При этом пакет MATLAB дистанционно получает доступ и управляет программным I/Q интерфейсом R&S®RTO-K11, а также может извлекать собранные данные для анализа сигналов с квадратурной модуляцией.
Источник: www.rohde-schwarz.ru
Автор(ы):
Афонская Т.Д., Колесникова О.В.
Номер журнала:
КИПиС 2013 № 1
29 января 2013 года в Силиконовой Долине (Санта Клара, Калифорния, США) в рамках выставки DesignCon прошла церемония награждения победителей конкурса Best in Test журнала Test & Measurement World. Данная премия призвана отметить самые важные и инновационные продукты, услуги и достижения в сфере электроизмерительной промышленности.
Автор(ы):
Афонская Т.Д., Афонский А.А.
Номер журнала:
КИПиС 2013 № 1
8 января 2013 года в Лас-Вегасе (штат Невада, США) открыла свои двери одна из крупнейших международных выставок потребительской электроники CES-2013 (www.cesweb.org). Выставка CES проводится с 1967 года, организатором мероприятия выступает известная торговая ассоциация Consumer Electronics Association (CEA) (www.ce.org).
Номер журнала:
КИПиС 2013 № 1
8 февраля одна из лидирующих компаний в области контрольно-измерительного оборудования Agilent Technologies представила всеобщему вниманию своё новейшее изобретение. Новый анализатор спектра реального времени класса PXA серии X может по праву считаться настоящим прорывом в сфере высокочастотных измерений. Ранее редакция нашего журнала побывала на подробной презентации, посвящённой этой интересной новинке. Обо всех преимуществах нового анализатора спектра нам рассказал Джим Курран (Jim Curran), менеджер по маркетингу компании Agilent, отвечающий за анализаторы и генераторы сигналов и решения для тестирования коммуникаций.
При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна. Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь. |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|
