| (574) |
| (121) |
| (134) |
| (78) |
| (666) |
| (24) |
| (265) |
| (20) |
| (96) |
| (558) |
| (225) |
| (23) |
| (132) |
| (154) |
|
Ами Тели (Ami Teli)
Статьи этого автора
Использование встроенных процессоров сценариев и встроенного программного обеспечения в контрольно-измерительных приборах — важная тенденция последнего десятилетия
Номер журнала: КИПиС 2013 № 3
Последнее десятилетие характеризуется увеличением потребительского спроса на электронику с расширенной функциональностью — от смартфонов до планшетных компьютеров. Это вызывает проблемы при тестировании комплектующих как для компаний-изготовителей подобной электроники, так и для изготовителей самих комплектующих. А поскольку смена моделей электронных устройств теперь происходит значительно быстрее, то для измерения их характеристик и тестирования требуются новые алгоритмы или процедуры. Часто это означает, что измерительные приборы, использовавшиеся для снятия ВАХ в прошлом году, в этом году могут оказаться уже непригодными. Ответом на эти непрерывные изменения стал ряд новых тенденций, направленных на создание измерительных приборов, способных быстро адаптироваться к вновь разрабатываемым процедурам испытаний.
|
|
|
События из истории измерений
|