![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Ли Стауфер (Lee Stauffer)
Ли Стауфер – старший технолог группы измерений параметров полупроводниковых приборов компании Keithley Instruments со штаб-квартирой в г. Кливленд, штат Огайо. Продукция Keithley Instruments является частью обширной линейки контрольно-измерительного оборудования компании Tektronix. До прихода в Keithley Ли Стауфер занимался проектированием систем спутниковой связи, а также разработкой оборудования и продукции на заводах по изготовлению полупроводников.
Статьи этого автора
Потребность в более мощных силовых полупроводниковых приборах ужесточает требования к контрольно-измерительному оборудованию
Номер журнала: КИПиС 2014 № 4
Направления развития контрольно-измерительной аппаратуры последнего поколения определяются совокупностью современных рыночных тенденций. Многие сегменты электронной промышленности, включая производство полупроводниковых приборов, нацелены на повышение эффективности генерации, передачи и потребления электроэнергии. Для создания устройств управления электродвигателями, регуляторов напряжения, преобразователей энергии и другого оборудования традиционно используются кремниевые п/п приборы. Поскольку большинство силовых п/п приборов работает в ключевом режиме, то возникает потребность повысить их экономичность путем уменьшения токов утечки и сопротивления в открытом состоянии…
|
|
Новые силовые полупроводниковые приборы стимулируют развитие контрольно-измерительного оборудования
Номер журнала: КИПиС 2013 № 5
Силовая электроника приобрела невиданную популярность. По мнению аналитиков компании IC Insights, рынок силовых полупроводниковых приборов ежегодно растет более чем на 6% и к 2014 г. должен достичь 14,5 млрд. долларов. Потребителям нужно не просто больше изделий, им нужны более эффективные изделия. В связи с этим производители разрабатывают новое поколение силовых полупроводниковых приборов, обеспечивающих существенное увеличение эффективности генерации, передачи и потребления электроэнергии.
|
|
Проблемы измерения параметров силовых полупроводниковых приборов — от лаборатории до производства
Номер журнала: КИПиС 2013 № 2
С недавних пор повсеместное стремление к повышению энергоэффективности заставляет производителей повышать качество силовых полупроводниковых приборов, таких как диоды, полевые транзисторы (ПТ), биполярные транзисторы с изолированным затвором (БТИЗ) и т. д. Новые технологии обещают улучшение характеристик — уменьшение потерь в открытом состоянии и меньшую утечку в закрытом состоянии, повышение скорости переключения и уменьшение коммутационных потерь. Однако чем лучше становятся характеристики этих п/п приборов, тем сложнее их измерять. В этой статье я сначала опишу типичный процесс разработки силовых п/п приборов, а затем мы обсудим некоторые проблемы, связанные с измерением их характеристик и необходимым для этого оборудованием.
|
|
|
События из истории измерений
|