Поиск по сайту

Новости
компаний
О компаниях

	(574)
	(121)
	(134)
	(78)
	(666)
	(24)
	(265)
	(20)
	(96)
	(558)
	(225)
	(23)
	(132)
	(154)

АКТАКОМ

Anritsu

FLUKE

Keithley Instruments

Keysight Technologies

METREL

RIGOL

Rohde & Schwarz

Spectracom

Tektronix

Texas Instruments

Yokogawa

Росстандарт

Авторизация

Информация

АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Статьи КИПиС

Статьи 21 - 30 из 30

Начало | « | 1 2 3

Компания Agilent Technologies будет лидировать на российском рынке! Интервью г-на Салима Одэ (Saleem Odeh), вице-президента компании Agilent Technologies

Автор(ы): Афонский А.А. Номер журнала: КИПиС 2009 № 3

FLUKE: мы пришли на российский рынок навсегда. Интервью со старшим вице-президентом европейского отделения компании FLUKE Петером ван ден Броеком (Peter van den Broek)

Автор(ы): Афонский А.А. Номер журнала: КИПиС 2009 № 2

На все существующие стандарты у Rohde&Schwarz есть свои решения. Интервью со специалистом по связям с общественностью и прессой компании Rohde&Schwarz GmbH & Co Патрицей Мюхлбауер (Patrizia Muehlbauer, Press and PR)

Автор(ы): Афонский А.А. Номер журнала: КИПиС 2008 № 6

Keithley Instruments: «Наши преимущества — простота использования и высокая скорость измерений». Интервью с директором европейского направления Keithley Instruments, Inc., Клаусом Лейтбехером (Klaus Leutbecher, Europe Director of Keithley)

Автор(ы): Афонский А.А. Номер журнала: КИПиС 2008 № 6

Agilent Technologies продолжает развиваться, несмотря на кризис. Интервью с вице-президентом департамента осциллографов компании Agilent Technologies Скоттом Самплом (Scott Sampl, VP & GM DTD Oscilloscope)

Автор(ы): Афонский А.А. Номер журнала: КИПиС 2008 № 6

Новые эталоны Российской Федерации. Интервью начальника Управления метрологии Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии В.М. Лахова журналу «Контрольно-измерительные приборы и системы»

Автор(ы): Афонский А.А., Афонская Т.Д. Номер журнала: КИПиС 2008 № 3

Tektronix уделит больше внимания российскому рынку. Интервью Вице-президента по маркетингу компании Tektronix г-на Мартина Этерингтона (Martyn Etherington)

Автор(ы): Афонский А.А., Афонская Т.Д. Номер журнала: КИПиС 2008 № 3

О Законе «Об обеспечении единства измерений». Интервью c Заместителем Руководителя Ростехрегулирования В.Н. Крутиковым журналу «Контрольно-измерительные приборы и системы»

Автор(ы): Афонский А.А. Номер журнала: КИПиС 2008 № 2

Приборы Agilent — всегда, везде, каждому!

Автор(ы): Афонский А.А. Номер журнала: КИПиС 2007 № 6

Для Tektronix прошедший финансовый год был очень хорошим во многих отношениях

Автор(ы): Афонский А.А., Афонская Т.Д. Номер журнала: КИПиС 2007 № 4

Статьи 21 - 30 из 30

Начало | « | 1 2 3

При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Читайте бесплатно

№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4

КИПиС 2021 № 4

Тема номера:

Современная измерительная техника

События из истории измерений

22.12.1898

Родился советский физик-теоретик

Фок Владимир Александрович

Фок Владимир Александрович

Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.