 | (574) |
 | (121) |
 | (134) |
 | (78) |
 | (666) |
 | (24) |
 | (265) |
 | (20) |
 | (96) |
 | (558) |
 | (225) |
 | (23) |
 | (132) |
 | (154) |
|
Новости КИПиС
Новости 1341 - 1350 из 1560
27.08.2010 | 3029
В Физическом институте им. П.Н. Лебедева РАН (ФИАН) разработан передвижной озонометр миллиметрового диапазона радиоволн для мониторинга вертикального распределения содержания озона в атмосфере. Этот прибор перспективен для использования в наземной сети станций мониторинга состава атмосферы.
25.08.2010 | 3680
С 26 по 28 октября 2010 г. в ЦВК «Экспоцентр» (г. Москва) пройдет конгрессно-выставочное мероприятие «Российская неделя электроники». Мероприятие включает в себя 7 выставок и более 20 конференций и семинаров по разработке, производству, поставке компонентов и модулей радиоэлектронной аппаратуры, подготовке инженерных кадров и продвижению продукции радиоэлектронного комплекса на отечественном и зарубежном рынках.
20.08.2010 | 2939
Ведущие инженеры и программисты электронной отрасли России, топ-менеджеры компаний, представители научного сообщества, соберутся в Петербурге 20 и 21 сентября на 2-й Международной научно-практической конференции по вопросам электроники и IT технологиям – "Электроника России: Стратегия возрождения" (CivEl 2010).
17.08.2010 | 3324
18 августа 2010 г. Ивану Васильевичу Осоке, начальнику отдела во ФГУП «ВНИИМС», исполняется 55 лет. Редакция журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы от всей души поздравляет юбиляра!
14.08.2010 | 2542
15 августа Владимир Николаевич Крутиков, заместитель Руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии, отмечает свой день рождения. Редакция журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» поздравляет Владимира Николаевича с этой знаменательной датой! Доктор физико-математических наук, автор более 60 научных работ, Лауреат Премии Правительства Российской Федерации в области науки и техники, Владимир Николаевич внес неоценимый вклад в развитие науки в целом и в область стандартизации в частности.
09.08.2010 | 2749
На завершающую стадию вышел проект по разработке методик измерения эффективности органических солнечных фотоэлементов, созданных с помощью нанотехнологий. Работу ведут специалисты Всероссийского научно-исследовательского института оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ) совместно с исследователями из Международного лазерного центра МГУ им. М.В. Ломоносова, Физического факультета МГУ и Физического института РАН им. П.Н. Лебедева (ФИАН). Эталонный полимерный солнечный фотоэлемент будет первым в нашей стране.
06.08.2010 | 8720
Вчера, 5 августа 2010 г., завершила свою работу NIWeek 2010 – ведущая конференция и выставка по системам графического проектирования. Подведем итог наиболее ярких событий конференции.
05.08.2010 | 5349
4 августа, в рамках конференции NIWeek 2010 нашему журналу дал интервью Виктор Мерес (Victor Mieres), Вице-президент по продажам в азиатском регионе компании National Instruments. В частности, он ответил на вопросы, касающиеся стратегии развития компании и продвижения продукции на российском рынке, развития направления устройств сбора данных формата PCI/PXI Express и разработки новых продуктов. Нам также удалось побеседовать с Брайаном Беттсом, старшим менеджером группы продукции по сбору данных (Brian Betts, Sr. Group Manager Data Acquisition).
04.08.2010 | 4644
Во вторник, 3 августа, состоялся первый день ведущей конференции и выставки по системам графического проектирования NIWeek 2010. Были представлены лучшие разработки National Instruments в этом году, среди них: векторный анализатор цепей на базе PXI, новая версия LabView и новая платформа сбора данных с интерфейсом Ethernet. Вечером, в банкетном зале отеля «Four Sesons» состоялось награждение лучших разработок на базе программного обеспечения NI.
04.08.2010 | 2698
28 октября 2010 г. в Москве в рамках Российской недели электроники пройдет 3-я Всероссийская конференция "Встраиваемые системы".
Новости 1341 - 1350 из 1560
|
События из истории измерений
20.02.1844
Родился австрийский физик
|