|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Интервью с Вице-президентом по продажам в азиатском регионе компании National Instruments05.08.2010 4 августа, в рамках конференции NIWeek 2010 нашему журналу дал интервью Виктор Мерес (Victor Mieres), Вице-президент по продажам в азиатском регионе компании National Instruments. В частности, он ответил на вопросы,
касающиеся стратегии развития National Instruments и продвижения продукции на
российском рынке, развития направления устройств сбора данных формата PCI/PXI
Ex National Instruments уделяет большое внимание образовательным программам, а также часто позиционирует свою продукцию как специализированную для учебных лабораторий. Мы попросили Виктора рассказать о новых образовательных программах компании. В этом году в России прошли два мероприятия, для которых National Instruments выступила в качестве партнера. Это Второй Всероссийский робототехнический фестиваль (http://robosport.ru/robofest2010) и соревнования беспилотных автомобилей и недавно завершившаяся летняя школа по робототехнике в рамках Форума «Селигер 2010» (http://forumseliger.ru). Виктор Мерес прокомментировал цели и задачи, поставленные National Instruments для этих мероприятий и рассказал о достигнутых результатах. Вы сможете прочитать интервью в
октябрьском номере журнала "Контрольно-измерительные приборы и
системы" (№5, Нам также удалось побеседовать с Брайаном Беттсом, старшим менеджером группы продукции по сбору данных (Brian Betts, Sr. Group Manager Data Acquisition). Кроме того, для журналистов была организована экскурсия в главный офис компании National Instruments.
Главный офис компании National Instruments в г.Остин (штат Техас, США). Фойе офиса. Пока Dr. T (так называют сотрудники д-ра Джеймса Тручарда (Dr. James Truchard) - Президента, Генерального директора и соучредителя National Instruments) был на конференции, нам удалось сфотографировать "святая святых" - его рабочий кабинет.
Главный редактор «КИПиС» Афонский А.А. на фоне рабочего кабинета Dr. T
Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|