|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Бесплатный Веб-семинар компании Keithley расскажет о приемах, методиках и решениях для тестирования характеристик полупроводников22.03.2010 Компания Keithley Instruments, мировой лидер в производстве измерительного оборудования и систем для определения электрических величин, предлагает принять участие в бесплатном веб-семинаре: «Приемы, методы и решения для тестирования характеристик полупроводников» (Tips, Tricks, and Traps of Semiconductor Capacitance-Voltage (C-V) Testing).
Семинар пройдет в четверг, 25 марта 2010 г., в двух сессиях:
Этот веб-семинар является тематическим продолжением материала, изложенного на семинаре «Основы определения характеристик полупроводников» (Semiconductor Capacitance-Voltage (C-V) Testing Fundamentals), и предназначен для инженеров осуществляющих разработку, отладку и калибровку систем для измерения электрической емкости и напряжения. На семинаре будут обсуждаться основные требования и методики, необходимые для получения хороших результатов измерения. Среди обсуждаемых тем – настройка системы для измерения и получение высоковольтных и квазистатических характеристик емкости и напряжения.
Веб-семинар «Приемы, методы и решения для тестирования характеристик полупроводников» проводится бесплатно. Более подробную информацию об этом и других веб-семинарах компании Keithley можно узнать на сайте www.keithley.com/events/semconfs/webseminars.
О компании: Keithley Instruments Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|