![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости National Instruments
Новости компаний
28.09.2016 | 2160
Новые симуляторы для программно-технического моделирования (HIL Simulators) уменьшают риски разработки и тестирования без ухудшения гибкости, требуемой при создании открытых коммерческих платформ.
19.09.2016 | 1781
NI, разработчик систем на основе платформы, которые позволяют инженерам и ученым решать сложнейшие инженерные задачи, анонсирует первый в мире программно-аппаратный шаблон для приложений MIMO - MIMO Application Framework.
14.09.2016 | 1938
Компания National Instruments приглашает принять участие в вебинаре "Основы создания систем технического зрения в LabVIEW", который пройдёт 16 сентября 2016. Данный вебинар предназначен для инженеров широкого профиля, занимающихся системами технического зрения и обработкой изображений.
07.09.2016 | 2011
Компания National Instruments приглашает Вас принять участие в семинаре, посвящённом разработке автоматизированных систем тестирования радиоэлектронной аппаратуры и электронных компонентов. Мероприятие пройдёт в Москве 15 сентября.
04.08.2016 | 2057
National Instruments, производитель систем на основе платформы, позволяющих инженерам и ученым решать важнейшие мировые инженерные задачи, – анонсирует источник-измеритель питания (SMU) NI PXIe-4135 с чувствительностью измерений 10 фА и выходом по напряжению до 200 В. Инженеры могут использовать новый NI PXIe-4135 для измерений сигналов малых токов, а также пользоваться преимуществами высокой плотности каналов, высокой скоростью тестирования и гибкости источников-измерителей NI для таких приложений как параметрические тесты на кремниевой пластине, в исследованиях материалов, характеризации датчиков и микросхем с малыми токами.
28.07.2016 | 2079
Компании NI и HPE (Hewlett Packard Enterprise) представили результат своего сотрудничества по созданию доступной системы хранения данных, основанной на решениях NI DataFinder Server Edition и HPE Moonshot Systems. В рамках этого сотрудничества была создана доступная система хранения данных лучшей в своем классе для более эффективного решения технических задач и принятия решений с использованием баз данных, получаемых с датчиков.
08.07.2016 | 2027
NI, производитель платформенных систем, помогающих инженерам и ученым решать крупнейшие инженерные задачи, анонсировал первое в мире программно-определяемое радио (SDR) для миллиметрового диапазона mmWave. Новая система NI mmWave Transceiver System является приемопередатчиком, способным передавать и/или получать широкополосный сигнал с беспрецедентной полосой пропускания реального времени в 2 ГГц, покрывающей спектр в E-band, 71-76 ГГц.
20.06.2016 | 2344
Компания NI, разработчик систем, позволяющих инженерам и ученым решать самые сложные инженерные задачи сегодняшнего дня, представила NI PXIe-4081 – цифровой мультимтер с разрешением 7½ знаков и высокопроизводительный изолированный осциллограф 1.8 МВыб/с. NI PXIe-4081 стал первым мультиметром в формате PXI Express.
17.05.2016 | 2063
NI производитель платформенных систем, помогающих инженерам и ученым решать крупнейшие инженерные задачи, анонсирует, что на выставке IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS2016), которая пройдет в Сан-Франциско, Booth 1529, с 22 по 27 мая, продемонстрирует новое, «умное» решение для тестирования и СВЧ проектирования, предназначенное для всего жизненного цикла продукта.
25.04.2016 | 1904
Семинар пройдёт 28 апреля 2016 в Москве в Конгресс-центре МТУСИ. В программе семинара: технологии NI для задач сбора данных, управления и моделирования; современные подходы для создания информационно-измерительных систем и многие другие темы.
|
События из истории измерений
|