|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
NI продемонстрирует умные решения для проектирования и тестирования СВЧ систем на IMS201617.05.2016 NI, производитель платформенных систем, помогающих инженерам и ученым решать крупнейшие инженерные задачи, анонсирует, что на выставке IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS2016), которая пройдет в Сан-Франциско, Booth 1529, с 22 по 27 мая, продемонстрирует новое, «умное» решение для тестирования и СВЧ проектирования, предназначенное для всего жизненного цикла продукта. Разработка устройств следующего поколения для Интернета Вещей (IoT) и инфраструктуры 5G, бросает вызов методам разработки меньших по размерам, но более умных и быстрых устройств. В мире полупроводников движение в сторону уменьшения размеров и более интегрированных устройств ведет к более умным методикам для проектирования и тестирования радиоустройств. В авиакосмических и оборонных приложениях электронные системы являются ключевыми в повышении комплексности системы и совместимости старого оборудования.
Для эффективной работы на всех фазах разработки продукта клиенты могут воспользоваться преимуществами инновационных решений для проектирования и тестирования от NI, основанных на ПО AWR Design Environment™, LabVIEW и PXI. Решения NI, представленные на IMS2016, включают в себя:
Президент, исполнительный директор и со-основатель NI, доктор Джеймс Тручард представит закрывающий доклад, под названием Роль ПО в системах следующего поколения 5G и СВЧ в четверг, 26 мая в 16:30. Доктор Тручард рассмотрит важнейшую роль программного подхода к технологическому взрыву беспроводных коммуникаций для высокоскоростной передачи голоса, данных и видео, начиная с раннего прототипирования и исследований, и до полного внедрения системы. NI проведет 13 презентаций в MicroApps Theater, в дополнение к дискуссии, озаглавленной The 5G IoT Conundrum (Головоломка Интернета вещей 5G), в которой примут участие Эрик Старклофф, исполнительный вице-президент NI по глобальным продажам и маркетингу. Начало запланировано на полдень 25 мая. Примечание: см. о выставке IMS 2016 в разделе Обзоры зарубежных выставок по данной ссылке. О компании: NI Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|