|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Семинар «Измерения, управление, моделирование Технологическая платформа National Instruments для стендовых испытаний и сбора данных»25.04.2016 Семинар «Измерения, управление, моделирование Технологическая платформа National Instruments для стендовых испытаний и сбора данных» пройдёт 28 апреля 2016 года в Москве в Конгресс-центре МТУСИ. Время проведения: 10:00 – 14:00
В программе семинара:
Посещение мероприятия свободное, по предварительной регистрации (регистрационная форма доступна по данной ссылке). О компании: NI Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|