EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости компаний

RSS

28.09.2016 | 2215
NI улучшает адаптируемость программно-технического моделирования (HIL) в системах тестирования с помощью готовых к применению симуляторов Новые симуляторы для программно-технического моделирования (HIL Simulators) уменьшают риски разработки и тестирования без ухудшения гибкости, требуемой при создании открытых коммерческих платформ.
19.09.2016 | 1824
NI анонсирует первый в мире шаблон для систем Massive MIMO для ускорения инноваций в прототипировании связи 5G NI, разработчик систем на основе платформы, которые позволяют инженерам и ученым решать сложнейшие инженерные задачи, анонсирует первый в мире программно-аппаратный шаблон для приложений MIMO - MIMO Application Framework.
14.09.2016 | 1984
Вебинар "Основы создания систем технического зрения в LabVIEW" Компания National Instruments приглашает принять участие в вебинаре "Основы создания систем технического зрения в LabVIEW", который пройдёт 16 сентября 2016. Данный вебинар предназначен для инженеров широкого профиля, занимающихся системами технического зрения и обработкой изображений.
07.09.2016 | 2076
Технический семинар «Технологии National Instruments для автоматизации тестирования радиоэлектронной аппаратуры и электронных компонентов» Компания National Instruments приглашает Вас принять участие в семинаре, посвящённом разработке автоматизированных систем тестирования радиоэлектронной аппаратуры и электронных компонентов. Мероприятие пройдёт в Москве 15 сентября.
04.08.2016 | 2104
NI анонсирует самый точный источник-измеритель в формате PXI National Instruments, производитель систем на основе платформы, позволяющих инженерам и ученым решать важнейшие мировые инженерные задачи, – анонсирует источник-измеритель питания (SMU) NI PXIe-4135 с чувствительностью измерений 10 фА и выходом по напряжению до 200 В. Инженеры могут использовать новый NI PXIe-4135 для измерений сигналов малых токов, а также пользоваться преимуществами высокой плотности каналов, высокой скоростью тестирования и гибкости источников-измерителей NI для таких приложений как параметрические тесты на кремниевой пластине, в исследованиях материалов, характеризации датчиков и микросхем с малыми токами.
28.07.2016 | 2139
Сотрудничество NI и HPE по созданию нового решения - доступной системы хранения данных Компании NI и HPE (Hewlett Packard Enterprise) представили результат своего сотрудничества по созданию доступной системы хранения данных, основанной на решениях NI DataFinder Server Edition и HPE Moonshot Systems. В рамках этого сотрудничества была создана доступная система хранения данных лучшей в своем классе для более эффективного решения технических задач и принятия решений с использованием баз данных, получаемых с датчиков.
08.07.2016 | 2070
NI представляет первое в мире программно-определяемое радио на волнах миллиметрового диапазона (mmWave), предназначенное для ускорения исследований 5G NI, производитель платформенных систем, помогающих инженерам и ученым решать крупнейшие инженерные задачи, анонсировал первое в мире программно-определяемое радио (SDR) для миллиметрового диапазона mmWave. Новая система NI mmWave Transceiver System является приемопередатчиком, способным передавать и/или получать широкополосный сигнал с беспрецедентной полосой пропускания реального времени в 2 ГГц, покрывающей спектр в E-band, 71-76 ГГц.
20.06.2016 | 2395
NI анонсирует самый точный цифровой мультиметр на 7½ знаков Компания NI, разработчик систем, позволяющих инженерам и ученым решать самые сложные инженерные задачи сегодняшнего дня, представила NI PXIe-4081 – цифровой мультимтер с разрешением 7½ знаков и высокопроизводительный изолированный осциллограф 1.8 МВыб/с. NI PXIe-4081 стал первым мультиметром в формате PXI Express.
17.05.2016 | 2108
NI продемонстрирует умные решения для проектирования и тестирования СВЧ систем на IMS2016 NI производитель платформенных систем, помогающих инженерам и ученым решать крупнейшие инженерные задачи, анонсирует, что на выставке IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS2016), которая пройдет в Сан-Франциско, Booth 1529, с 22 по 27 мая, продемонстрирует новое, «умное» решение для тестирования и СВЧ проектирования, предназначенное для всего жизненного цикла продукта.
25.04.2016 | 1943
Семинар «Измерения, управление, моделирование Технологическая платформа National Instruments для стендовых испытаний и сбора данных» Семинар пройдёт 28 апреля 2016 в Москве в Конгресс-центре МТУСИ. В программе семинара: технологии NI для задач сбора данных, управления и моделирования; современные подходы для создания информационно-измерительных систем и многие другие темы.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
29.11.1803
Родился австрийский физик
Кристиан Доплер
29.11.1849
Родился английский ученый, изобретатель первой электронной лампы
Джон Амброз Флеминг
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.