EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости КИПиС

RSS

27.08.2010 | 3015
Новости ФИАН-информ. Разработан передвижной озонометр миллиметрового диапазона В Физическом институте им. П.Н. Лебедева РАН (ФИАН) разработан передвижной озонометр миллиметрового диапазона радиоволн для мониторинга вертикального распределения содержания озона в атмосфере. Этот прибор перспективен для использования в наземной сети станций мониторинга состава атмосферы.
25.08.2010 | 3659
До начала «Российской недели электроники» осталось два месяца С 26 по 28 октября 2010 г. в ЦВК «Экспоцентр» (г. Москва) пройдет конгрессно-выставочное мероприятие «Российская неделя электроники». Мероприятие включает в себя 7 выставок и более 20 конференций и семинаров по разработке, производству, поставке компонентов и модулей радиоэлектронной аппаратуры, подготовке инженерных кадров и продвижению продукции радиоэлектронного комплекса на отечественном и зарубежном рынках.
20.08.2010 | 2918
Международная конференция "Электроника России: Стратегия возрождения" Ведущие инженеры и программисты электронной отрасли России, топ-менеджеры компаний, представители научного сообщества, соберутся в Петербурге 20 и 21 сентября на 2-й Международной научно-практической конференции по вопросам электроники и IT технологиям – "Электроника России: Стратегия возрождения" (CivEl 2010).
17.08.2010 | 3297
И.В. Осока отмечает свое 55-летие 18 августа 2010 г. Ивану Васильевичу Осоке, начальнику отдела во ФГУП «ВНИИМС», исполняется 55 лет. Редакция журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы от всей души поздравляет юбиляра!
14.08.2010 | 2520
Редакция журнала поздравляет Крутикова В.Н со знаменательной датой! 15 августа Владимир Николаевич Крутиков, заместитель Руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии, отмечает свой день рождения. Редакция журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» поздравляет Владимира Николаевича с этой знаменательной датой! Доктор физико-математических наук, автор более 60 научных работ, Лауреат Премии Правительства Российской Федерации в области науки и техники, Владимир Николаевич внес неоценимый вклад в развитие науки в целом и в область стандартизации в частности.
09.08.2010 | 2731
Первый отечественный эталон органического фотоэлемента будет внесен в Государственный реестр На завершающую стадию вышел проект по разработке методик измерения эффективности органических солнечных фотоэлементов, созданных с помощью нанотехнологий. Работу ведут специалисты Всероссийского научно-исследовательского института оптико-физических измерений (ФГУП ВНИИОФИ) совместно с исследователями из Международного лазерного центра МГУ им. М.В. Ломоносова, Физического факультета МГУ и Физического института РАН им. П.Н. Лебедева (ФИАН). Эталонный полимерный солнечный фотоэлемент будет первым в нашей стране.
06.08.2010 | 8510
NIWeek 2010: итоги работы Вчера, 5 августа 2010 г., завершила свою работу NIWeek 2010 – ведущая конференция и выставка по системам графического проектирования. Подведем итог наиболее ярких событий конференции.
05.08.2010 | 5329
Интервью с Вице-президентом по продажам в азиатском регионе компании National Instruments 4 августа, в рамках конференции NIWeek 2010 нашему журналу дал интервью Виктор Мерес (Victor Mieres), Вице-президент по продажам в азиатском регионе компании National Instruments. В частности, он ответил на вопросы, касающиеся стратегии развития компании и продвижения продукции на российском рынке, развития направления устройств сбора данных формата PCI/PXI Express и разработки новых продуктов. Нам также удалось побеседовать с Брайаном Беттсом, старшим менеджером группы продукции по сбору данных (Brian Betts, Sr. Group Manager Data Acquisition).
04.08.2010 | 4627
Первый день работы NIWeek 2010    Во вторник, 3 августа, состоялся первый день ведущей конференции и выставки по системам графического проектирования NIWeek 2010. Были представлены лучшие разработки National Instruments в этом году, среди них: векторный анализатор цепей на базе PXI, новая версия LabView и новая платформа сбора данных с интерфейсом Ethernet. Вечером, в банкетном зале отеля «Four Sesons» состоялось награждение лучших разработок на базе программного обеспечения NI.
04.08.2010 | 2678
Третья Всероссийская конференция «Встраиваемые системы» 28 октября 2010 г. в Москве в рамках Российской недели электроники пройдет 3-я Всероссийская конференция "Встраиваемые системы".

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
29.11.1803
Родился австрийский физик
Кристиан Доплер
29.11.1849
Родился английский ученый, изобретатель первой электронной лампы
Джон Амброз Флеминг
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.