![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости КИПиС
Новости 1101 - 1110 из 1560
03.01.2014 | 1993
Новые техзоны Eureka Park: Next и Academia Tech, предназначенные для инновационных разработок, представленных колледжами и университетами.
31.12.2013 | 1904
Компания Ecovacs Robotics, Inc сообщила, что была названа лауреатом International CES Innovations 2014 Design and Engineering Awards за своё изобретение – робота для мойки окон WINBOT. Оценка продукции, которая вошла в эту престижную программу, производилась экспертной группой независимых дизайнеров, инженеров и членов отраслевых средств массовой информации. Рассматривались дизайн и технические особенности электронной потребительной продукции по 29 категориям.
27.12.2013 | 1828
Выдающиеся и влиятельные авторы технической промышленности примут участие в новой программе CES под названием Gary’s Book Club (Книжный клуб Гари). Выставка CES 2014, основанная CEA, станет центром международных встреч для всех, кто занимается успешным бизнесом в сфере потребительской электроники. Даты проведения выставки: 7-10 января, 2014, Лас-Вегас, штат Невада.
22.12.2013 | 1634
В соответствии со статьей 19 Федерального закона «Об обеспечении единства измерений» постановлением Правительства Российской Федерации от 27.11.2013 № 1077 утверждено Положение о системе аккредитации в области обеспечения единства измерений.
21.12.2013 | 1571
12 декабря 2013 года прошло совместное заседание Комитета РСПП по техническому регулированию, стандартизации и оценке соответствия и Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии (Росстандарта). В мероприятии приняли участие более трехсот представителей федеральных органов исполнительной власти, общественных объединений бизнеса, руководителей и специалистов крупнейших предприятий и организаций различных отраслей промышленности, ведущие эксперты в сфере технического регулирования и стандартизации.
01.12.2013 | 1700
Совместное заседание Комитета РСПП по техническому регулированию, стандартизации и оценке соответствия и Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии состоится 5 декабря 2013 года в актовом зале Росстандарта (г.Москва, Ленинский проспект, д. 9). Время проведения: с 13-30 до 16-00.
30.11.2013 | 1797
03 декабря 2013 года состоится XV съезд Метрологической академии. Мероприятие состоится в «Большом» конференц-зале гостиницы Октябрьская по адресу: Санкт-Петербург, Лиговский пр, д.10.
27.11.2013 | 1985
18 декабря 2013 г. пройдет новый семинар «Автоматизация процессов разработки электронной аппаратуры и подготовки документации к производству».
22.11.2013 | 2304
Семинар «Новая документация по аккредитации лабораторий, внутренний контроль качества результатов измерений в аккредитованных лабораториях в соответствии с требованиями ГОСТ Р ИСО/МЭК 17025 и ГОСТ Р 5725, пробоотбор, подготовка оборудования, методики измерений, прослеживаемость в аккредитованных лабораториях» пройдёт в Санкт-Петербурге.
19.11.2013 | 1690
28 ноября 2013 г. пройдет семинар и мастер-класс «Управление проектами разработки электронной аппаратуры».
Новости 1101 - 1110 из 1560
|
События из истории измерений
10.02.1911
Родился советский ученый-инженер в области математики и механики, организатор советской науки
|