|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Известные авторы технических изданий будут раздавать автографы на выставке CES27.12.2013 Выдающиеся и влиятельные авторы технической промышленности примут участие в новой программе CES под названием Gary’s Book Club (Книжный клуб Гари). Выставка CES 2014, основанная CEA, станет центром международных встреч для всех, кто занимается успешным бизнесом в сфере потребительской электроники. Даты проведения выставки: 7-10 января, 2014, Лас-Вегас, штат Невада. В программе Gary’s Book Club будут представлены самые свежие работы известных в промышленности авторов, которые исследуют роль технологии в развитии современного общества. В ходе программы авторы будут подписывать книги в зале Experience CEA Stage, LVCC Grand Lobby. Представленные книги можно будет приобрести на месте, а также через компанию Barnes & Noble на протяжении всего периода работы CES. «Выставка CES всегда была путеводной звездой в мире инновационных технологий, направляющей технических специалистов со всего мира. – Сообщил Гари Шапиро (Gary Shapiro), президент и генеральных директор ассоциации CEA и автор книг-бестселлеров Ninja Innovation: The Ten Killer Strategies of the World’s Most Successful Businesses и The Comeback: How Innovation will Restore the American Dream. – Мы безумно рады приветствовать этих невероятных авторов на сцене CES. Их работы освещают те ключевые технологические особенности, которые так важны в нашей повседневной жизни и так положительно влияют на мировую экономику». С полным списком авторов-участников Gary’s Book Club можно ознакомиться на сайте выставки CESweb.org, более подробная информация доступна здесь - Press Kit. В Международной выставке CES 2014 будут участвовать около 3200 экспонентов, которые представят самые интересные новинки из мира потребительской электроники. Для получения более подробной информации посетите официальный сайт выставки. CEA – www.CE.org
Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|