|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
NI Management Studio 2013 упрощает разработку приложений для тестирования и проведения измерений на платформе .NET02.04.2013 Компания National Instruments (Nasdaq: NATI) выпустила на рынок Measurement Studio 2013, единственную платформу линейки .NET, располагающую всеми необходимыми инструментами для построения профессиональной системы измерений непрерывного цикла в среде Microsoft Visual Studio. Measurement Studio 2013, интегрируется с линейкой продуктов Visual Studio версии 2012, 2010 и 2008 и является единственным программным обеспечением, доступным на рынке, которое объединяет специализированные решения для проведения тестирования, измерений и автоматизации производства. Measurement Studio 2013 осуществляет интуитивно понятную связь между аппаратным и программным обеспечением при помощи библиотек управления измерительными приборами, а также помощника по настройке для новых приборов сбора данных DAQ. Сочетая более чем 500 новейших функций анализа, расчета и обработки сигналов, Measurement Studio 2013 располагает всеми функциями, необходимыми для точной обработки данных и достижения существенных результатов. “Вместо того, чтобы тратить время и деньги на создание собственных пользовательских интерфейсов, либо их покупку и настройку для работы с необходимыми техническими данными, инженеры могут использовать продукт Measurement Studio для быстрого и беспроблемного создания приложений для тестирования и измерений на платформе .NET,” говорит Рэй Алмгрен, вице-президент по корпоративному маркетингу и работе с программным обеспечением в компании National Instruments. “.NET-программисты, использующие это программное обеспечение, получают огромное преимущество, поскольку они имеют возможность сэкономить свое время и деньги в процессе разработки и использования своих систем.” Более подробная информация по продукту Measurement Studio 2013: www.ni.com/mstudio Скачать бесплатную демо-версию программы: www.ni.com/mstudio/download О компании: NI Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|