|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Компания Tektronix представляет решение для тестирования устройств стандарта PCI EXPRESS® 5.010.03.2021 Компания Tektronix, Inc., в сотрудничестве с Anritsu, представляет новое решение для тестирования приемников PCI EXPRESS® 5.0 (Base и CEM) и генераторов опорной частоты, став первой компанией, предлагающей оснастки CEM для предварительного тестирования на соответствие стандарту. Сотрудничество между Tektronix и Anritsu позволило усовершенствовать ведущее в мире решение по тестированию приемников, добавив возможности по проверке передатчиков и сигналов опорной частоты. PCI EXPRESS продолжает укреплять свое лидерство в отрасли в качестве доминирующей высокоскоростной последовательной компьютерной шины, удваивая пропускную способность каждые три года и превышая целевые показатели благодаря опережающему введению спецификации Base 5.0 (128 ГБ/с). Ожидается, что эти быстрые темпы развития продолжатся, поскольку организация PCI-SIG®, устанавливающая стандарты передачи данных ввода/вывода периферийных компонентов, объявила о том, что в 2021 г. выйдет спецификация PCI EXPRESS 6.0 (256 ГБ/с), которая будет включать передачу с помощью многоуровневой модуляции PAM4. Производители серверов и устройств хранения данных быстро переходят на PCI EXPRESS 5.0 из-за новых требований, предъявляемых 400-гигабитным Ethernet, облачным искусственным интеллектом и моделированию (сопроцессорам) и прочими технологиями. Столь быстрое развитие вызывает появление совершенно нового набора контрольно-измерительных задач, традиционно разделенных на проверку полупроводниковых приборов на базовом уровне и тестирование соответствия CEM согласно стандартам PCI-SIG. Решение Tektronix по тестированию приемников и тактовых сигналов PCI EXPRESS 5.0 было разработано в соответствии со спецификациями 5.0 Base, спецификациями 5.0 CEM и спецификациями для тестирования PCIe 5.0. Ключевые преимущества:
По материалам: Tektronix О компании: Tektronix Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|