|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Выявление взаимосвязи между джиттером и шумом схемы питания
Лучшей отправной точкой для выяснения исходной причины появления битовых ошибок является анализ джиттера, но в некоторых случаях добраться до первопричины может помочь анализ сигналов схемы питания. Статья Ли Моргана (Компания Tektronix) «Выявление взаимосвязи между джиттером и шумом схемы питания» поможет Вам разобраться в битовых ошибках, рассмотрев эти два явления как во временной, так и в частотной областях.
Автор(ы): Ли Морган (Lee Morgan) Номер журнала: КИПиС 2020 № 5 Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна. Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь. |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|