|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Компания Tektronix объявляет о выпуске ПО TekScope PC с функцией расширенного анализа данных нескольких осциллографов22.12.2020 Компания Tektronix, Inc. представила новую функцию для своего ПО TekScope PC, сделав его самым современным и наиболее совершенным программным обеспечением для анализа сигналов на рынке контрольно-измерительного оборудования. ПО TekScope PC с расширенным анализом данных нескольких осциллографов позволяет удаленно просматривать и анализировать данные 32 каналов нескольких осциллографов одновременно через один интерфейс, что повышает эффективность анализа. Компания Tektronix ускорила разработку TekScope, поскольку глобальная пандемия COVID-19 радикально изменила условия работы инженеров. Так как многие инженеры перестали работать непосредственно в лабораториях, новая функция анализа данных с нескольких осциллографов позволяет им эффективно обрабатывать, анализировать и обмениваться данными без необходимости находиться рядом с осциллографом или исследуемым устройством. Данная функция позволяет удаленно управлять настройками сбора данных на всех осциллографах одновременно без необходимости настраивать каждый прибор отдельно. Клиентам было нужно решение с высоким разрешением, способное обнаруживать очень быстрые глитчи во многих каналах одновременно. Функция анализа данных нескольких осциллографов в ПО TekScope решает эту проблему. ПО TekScope совместимо с данными, полученными от любых осциллографов Tektronix. Возможно удалённое соединение с осциллографами смешанных сигналов Tektronix серий 4/5/6, низкопрофильными осциллографами Tektronix серий 5/6, осциллографами Tektronix серии DPO 70000C, 70000SX и 70000DX, а также лабораторными осциллографами TBS 1000 и TBS 2000. При этом пользователи могут в режиме реального времени извлекать данные из осциллографов в ПО TekScope PC и проводить последующий анализ в локальном режиме, исследуя 32 канала вместе. Подробнее о новой функции для ПО TekScope PC.
По материалам Tektronix О компании: Tektronix Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|