|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Семинар "Технологии National Instruments для тестирования и разработки радиоэлектронных комплексов и систем - 2012"13.10.2012 18 октября 2012 г. состоится семинар "Технологии National Instruments для тестирования и разработки радиоэлектронных комплексов и систем - 2012".Место проведения семинара: г. Москва, Конгресс-центр МТУСИ, ст. м. "Авиамоторная", ул. Авиамоторная 8-а, начало в 10.00. На семинаре будут рассмотрены следующие темы: - Новые продукты National Instruments для решения задач разработки и тестирования радиоэлектронных комплексов и систем; - Применение технологии PXIe/PXI при разработке радиотехнических комплексов, метрологической, поверочной и тестирующей аппаратуры для радиотехнических устройств и ЭКБ; - Разработка многоканальных когерентных комплексов приема и генерации СВЧ сигналов для задач контроля параметров ФАР / АФАР и имитации радиообстановки; - NI VST - векторные приемо-передатчики СВЧ сигналов на базе ПЛИС – новейшие технологии программируемого радио (SDR) в формате PXIe. Программа семинара Участие в семинаре бесплатное, по предварительной регистрации. Зарегистрироваться на семинар О компании: NI Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|