|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Cтенд технологий National Instruments в Политехническом музее02.07.2012 В Политехническом музее, крупнейшем научно-техническом музее России, начал работу стенд, демонстрирующий передовые технологии компании National Instruments.Специалистами компании National Instruments совместно с сотрудниками Политехнического музея были проведены работы по расширению экспозиции музея. В рамках этой работы в павильоне, посвященном автоматике и кибернетике, представлен интерактивный модульный комплекс измерения температурного поля, в состав которого входит модульное оборудование National Instruments и графическая среда NI LabVIEW. Стенд National Instruments в Политехническом музее Посетители при помощи данного приложения могут измерить температурный фон ладони, который при помощи программных средств NI LabVIEW отображается в графическом, 2D и 3D виде на мониторе компьютера. Технологии NI для мощного сбора данных на примере данного стенда наглядно демонстрируют широкий спектр возможностей оборудования NI для разработки надежных многоканальных систем сбора данных. Стенд NI позволяет будущим инженерам и разработчикам в живую ознакомиться с возможностями программно-аппаратной платформы NI и модульными системами для разработки контрольно-измерительных систем. О компании: NI Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|