|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Технический семинар NI “Проектирование и разработка систем автоматизированных испытаний и КПА: от тестеров ЭКБ до имитации внешней среды радиоэлектронных систем”14.09.2017 Компания National Instruments приглашает Вас принять участие в техническом семинаре, посвященном применению технологий модульных приборов для построения автоматизированных систем тестирования, КПА и тестеров ЭКБ. Дата и место проведения: 19 сентября 2017, Москва, гостиница "Рэдиссон Славянская", пл. Европы, д. 2. Будут рассмотрены такие задачи, как создание стендов тестирования и КПА для блоков и систем различной направленности, входной и выходной контроль ЭКБ, интеллектуальное тестирование сложных систем с помощью полунатурного моделирования и программно-аппаратной имитации подсистем. В ходе семинара специалисты National Instruments расскажут о лучших практиках построения систем параметрического и функционального тестирования радиоэлектроники, от тестеров ЭКБ до имитации внешней среды радиоэлектронных систем. Партнеры и заказчики поделятся своим опытом реализации сложных комплексных проектов с помощью технологий и продуктов National Instruments. Участие в мероприятии бесплатное, по предварительной регистрации. Пройти регистрацию, а также ознакомиться с подробной программой мероприятия можно по данной ссылке.
О компании: NI Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|