National Instruments представила новые модульные приборы для тестирования электронных узлов и компонентов

02.09.2011

Компания National Instruments представила 3 модуля в формате PXI - это цифровой анализатор с функцией параметрического тестирования на каждый вывод (PPMU) и программируемые источники/измерители (SMU). Применение нового модуля цифрового анализатора с частотой 200 МГц и функцией PPMU NI PXIe-6556, а также четырехканальных модулей источников/измерителей NI PXIe-4140 и NI PXIe-4141 значительно уменьшает общую стоимость тестовой системы, увеличивают скорость проведения тестов и расширяют функциональность современной автоматизированной системы тестирования электроники.

Высокоскоростной цифровой модуль NI PXIe-6556 позволяет анализировать и генерировать цифровые векторы на частоте до 200 МГц или проводить измерения постоянного тока с точностью 1% на том же самом выводе, что сокращает количество используемого оборудования и уменьшает время тестирования устройства. Более того, данный модуль позволяет определить и автоматически откалибровать временные задержки, связанные с длиной кабеля. Также в модуле NI PXIe-6556 предусмотрена возможность подключения внешнего источника/измерителя питания для повышения точности.

Четырехканальные модули NI PXIe-4140/41 с частотой обновления 600 КГц, позволяют существенно сократить время измерения или получить переходные характеристики испытуемого объекта. С помощью модулей NI PXIe-4140/41 в одном шасси PXIe можно собрать до 68 каналов SMU. Новая технология SourceAdapt обеспечивает максимальную стабильность уровней напряжений в зависимости от нагрузки и позволяет увеличить скорость перестройки выходов. В традиционных приборах данная технология не реализована.

Все вышеперечисленные модули относятся к программно-аппаратной парадигме NI и могут быть запрограммированы с помощью среды графической разработки NI LabVIEW. LabVIEW сочетает в себе гибкость языка программирования с возможностями инженерных средств разработки. Таким образом, специалисты могут получить уникальный и специфичный прибор с требуемой функциональностью.

Более подробную информацию можете узнать на странице: www.ni.com/lp/semiconductor

Дополнительные ресурсы:

• Адаптивность (видео)
• Параллельное тестирование (видео)

National Instruments
www.ni.com/russia

О компании: NI