|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Новый модуль C-серии открывает все возможности CAN-интерфейса для платформ CompactDAQ и CompactRIO21.06.2011 Компания National Instruments представила новый высокоскоростной интерфейсный модуль NI 9862 для работы по промышленному протоколу CAN. Данный модуль дополняет семейство модулей NI-XNET, которые созданы специально для поддержки платформой CompactRIO различных промышленных протоколов передачи данных. NI 9862 поддерживает скорость до 1 Мб/с. Новый модуль имеет аппаратную поддержку передачи сообщений, а также позволяет аппаратно обрабатывать пакеты данных без пропусков при 100% нагрузке на линии передачи.
Новый модуль легко синхронизируется с другими устройствами ввода/вывода C серии посредством функций шасси CompactRIO и CompactDAQ. А интеграция этих шасси со средой графического программирования LabVIEW позволяет легко задействовать функции нового модуля.
Протокол CAN является стандартом де-факто в автомобильной диагностике, а также широко используется в других отраслях промышленности, от общественного транспорта и медицинских приборов до систем вооружений и промышленной автоматизации. Используя новый модуль, инженеры могут решать такие задачи как:
Семейство продуктов NI-XNET представляет собой программируемый интерфейс для работы с различными промышленными протоколами, такими как CAN, LIN, FlexRay и другими. С помощью данного интерфейса появляется возможность разрабатывать приложения для задач прототипирования, моделирования и тестирования промышленных протоколов. Программирование интерфейса осуществляется с помощью как среды графического программирования LabVIEW и LabVIEW Real-Time, так и ANSI C/C++. Данный интерфейс совмещает в себе гибкость и производительность низкоуровневых интерфейсов управления микроконтроллерами и широкие возможности разработки приложений для операционных систем Windows и LabVIEW Real-Time.
Более подробную информацию о модуле NI 9862 можно найти на странице www.ni.com/9862.
National Instruments
О компании: NI Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|