|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
National Instruments представляет новый модуль интеррогатора для сбора данных с оптических датчиков09.09.2010 Компания National Instruments объявила о выходе модуля интеррогатора NI PXIe-4844 в форм-факторе PXIExpress для сбора данных с оптических датчиков FBG (fiber Bragg grating). Датчики FBG позволяют по изменению отраженного излучения определить изменения физических величин, таких как деформация и температура. По сравнению с широко распространенными электрическими датчиками, датчики FBG обладают рядом преимуществ. Эти датчики электрически пассивны, на них не влияет ЭМИ и помехи, они стойки к коррозии и экстремальным погодным условиям. Линией передачи для таких датчиков служит оптоволокно, позволяющее проводить измерения на расстояниях до 10 км. Датчики FBG используются для измерений таких параметров величин как деформация, температура, давление, сила и т.д., причем несколько датчиков можно последовательно соединить на одном оптоволокне, уменьшив тем самым размер, вес и сложность измерительной системы.
Интеррогатор NI PXIe-4844 является новейшим модулем на базе шины PXI Express, дополнившим линейку модулей сбора сигналов с датчиков NI SC Express. Четыре параллельных оптических входа работают на частоте 10 Гц. Диапазон длин волн для каждого канала составляет 80 нм (от 1510 до 1590 нм), что позволяет подключить более 20 датчиков FBG (более 80 датчиков на модуль, в зависимости от рабочего диапазона датчиков). Для многоканальных измерительных задач число датчиков легко расширяется добавлением дополнительных модулей NI PXIe-4844 в шасси PXI Express.
Оптическая система модулей NI PXIe-4844 базируется на мощном, прецизионном лазере с перестраиваемой частотой и настраиваемом фильтре Фабри-Перо производства компании Micron Optics. Точность измерения длины волны составляет 1 пм, что в переводе на измерения с датчиков составляет примерно 1,2 микрострейн для деформации и 0,1 С для температуры. В отличие от обычных приборов, оптический интеррогатор не требует периодической калибровки, так как каждое измерение модуля NI PXIe-4844 калибруется по встроенному образцу длины волны, сертифицированному в NIST (Национальный институт стандартов и технологий, США).
Для сокращения времени настройки и запуска модуля NI PXIe-4844 специалисты могут использовать специализированный конфигуратор. Модуль поставляется с утилитой NI-OSI Explorer для автоматического определения датчиков и быстрой настройки, а так же драйвером NI-OSI, который позволяет в среде NI LabVIEW собирать данные, обрабатывать и переводить их в физические величины. Приложения, созданные в графической среде разработки LabVIEW можно легко расширить измерениями с других типов датчиков или приборов, добавить синхронизацию и функции управления. LabVIEW содержит сотни встроенных библиотек для разных типов анализа и представления данных.
Стандарт платформы PXI для измерений и автоматизации обеспечивает самые высокие показатели тактирования и синхронизации в отрасли и самую высокую пропускную способность на базе шины PXI Express. Платформа PXI позволяет интегрировать в одном шасси оптические модули NI PXIe-4844 и другие модули, для задач управления и сбора электрических сигналов SC Express.
Оптические интеррогаторы NI PXIe-4844 могут применяться для распределенных измерениий на протяженных объектах, таких как мосты, дамбы, туннели и высотные здания в гражданском строительстве, для мониторинга лопастей ветрогенераторов, трубопроводов, атомных реакторов, нефтяных платформ и т.д. в энергетике транспорт, для тестирования и мониторинга морских судов и резервуаров, корпусов ЖД вагонов, узлов и агрегатов воздушных судов.
Более подробную информацию можно получить на странице www.ni.com/opticalsensing Видеодемонстрацию работы оптического интеррогатора с NIWeek 2010 можно посмотреть на странице http://www.youtube.com/watch?v=yVcRmgIbOvQ.
National Instruments в России, СНГ и Балтии
О компании: NI Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|