Научно-практическая конференция «NI Academic Days 2017»

20.02.2017

Компания National Instruments приглашает всех желающих участвовать с докладом о результатах прикладных исследований, перспективных разработках и о примерах успешного внедрения высоких технологий в промышленности, науке и образовании. По итогам будет издан сборник трудов конференции, содержащий все принятые доклады. Сборник будет размещен в РИНЦ.

Конференция пройдёт с 13 по 14 апреля 2017 г. в Москве.
Адрес: Московский институт электроники и математики (МИЭМ), Москва, ул. Таллинская, д.34.

Доклады можно прикреплять в форме регистрации до 28 февраля 2017 г.

В рамках секций участники смогут услышать более 150 докладов о применении
LabVIEW и технологий NI по следующим направлениям:

• Радиотехника и беспроводные технологии
• Автоматизация, встраиваемые системы, робототехника
• Электроника и микроэлектроника
• Стендовые испытания и многоканальные системы сбора данных
• Системы управления реального времени и системы аппаратно-программного моделирования
• Лабораторные практикумы и учебные стенды для школ и ВУЗов
• Автоматизация научного эксперимента

Регистрационная форма Academic Days находится на сайте National Instruments по данной ссылке.

www.ni.com

О компании: NI