|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Конференция NIWeek 2010 – уникальная возможность знакомства с самыми современными измерительными технологиями14.05.2010 Компания National Instruments объявила о планах проведения NIWeek, самой известной в мире конференции по системам графического проектирования и выставке, которая ежегодно собирает более 3300 инженеров, ученых и представителей научного сообщества со всех уголков земного шара. 16-я конференция NIWeek 2010 открывается 3 августа в Austin Convention Center в г. Остин (штат Техас, США). В течение 3-х дней будут проводиться технические саммиты, сессии и презентации, интерактивные демонстрации и выступления руководителей NI. Участники NIWeek 2010 смогут повысить свои технические знания, узнать о применении систем графической разработки приложений для задач тестирования и измерений, а также пообщаться с коллегами и разработчиками компании National Instruments. По словам Джеймса Тручарда, президента и основателя NI: «NIWeek – это уникальное место для встреч инженеров, обмена информацией и идеями, для получения представлений об инновационных технологиях, и продуктах NI». «На NIWeek 2010 мы сфокусируемся на демонстрации готовых пользовательских решений, на изучении преимуществ графического подхода к разработке систем и на том, как технический прогресс, воплощенный в технологиях, может ускорить время разработки и выход продуктов на рынок». Насыщенная программа NIWeek 2010 включает в себя:
О компании: NI Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|