Онлайн-семинар компании Keithley: Сверхбыстрое определение вольт-амперной характеристики

28.04.2010

Компания Keithley Instruments в этот четверг, 29 апреля 2010 г., проведет бесплатный онлайн-семинар посвященный методике быстрого определения вольт-амперных характеристик: «Fundamentals of Ultra-Fast I-V Device Characterization».

В ходе семинара будет рассмотрена возрастающая необходимость быстрого определения вольт-амперных характеристик при тестировании широкого диапазона устройств и в ходе различных технологических процессов. Наиболее актуальна эта техника при тестировании энергонезависимой памяти устройств, например, флэш-памяти или памяти на основе фазового перехода (PCM или PRAM); изотермической характеризации полупроводниковых приборов SOI (технология silicon-on-insulator - «кремний на изоляторе») и составных полупроводников, а также при определении переходных характеристик новых материалов, таких как диэлектрики с высоким коэффициентом диэлектрической проницаемости (high-K dielectrics).

Для участия в семинаре необходимо зарегестрироваться, пройдя по ссылке: www.keithley.com/events/semconfs/webseminars.

Дата и время проведения:

• Четверг, 29 апреля 2010 года, 15:00 (GMT +2) (17:00 по Москве)
• Четверг, 29 апреля 2010 года, 14:00 (GMT -4) (22:00 по Москве)

Семинар рассчитан на один час.

Семинар «Fundamentals of Ultra-Fast I-V Device Characterization» рекомендован преподавателям, студентам, исследователям и инженерам, осуществляющим определение характеристик различных материалов, процессов и устройств.

Для тех, кто не сможет непосредственно, в режиме онлайн, принять участие в семинаре, на веб-сайте компании Keithley будет доступна архивная запись семинара.

www.keithley.com

О компании: Keithley Instruments