|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Новая сверхбыстрая система Keithley 4225-PMU - возможности трех разных измерительных установок в одном корпусе02.03.2010 Компания Keithley – мировой лидер современного измерительного оборудования для измерения электрических величин, представила новый сверхбыстрый модуль 4225-PMU – новое пополнение в постоянно растущем семействе опций для 4200-SCS – системы определения параметров полупроводников. Новая опция добавляет встроенный генератор сигналов напряжения, а также возможности измерения тока/напряжения. Кроме того, модуль 4225-PMU позволяет совершать исследование вольт-амперной характеристики также быстро и просто, как исследование характеристик при постоянном токе. Широкий программируемый диапазон измерений, ширина импульса и время нарастания сигнала, делают этот модуль идеальным решением при необходимости наличия быстрых выходов по напряжению и синхронизированного измерения – от нанометрового комплементарного металло-оксидного полупроводника до флэш-памяти. Дополнительную информацию о продукте можно узнать из онлайн-презентации по ссылке: http://keithley.acrobat.com/p77402742/
В отличие от предыдущих решений, требующих три разных установки для тщательного тестирования одного устройства, материала или процесса, широкий динамический диапазон модели 4225-PMU позволяет исследовать целый набор материалов, устройств и процессов с помощью одной установки для тестирования. Теперь, лаборатории и научные центры смогут использовать одну гибкую систему для осуществления измерений трех разных типов: определение вольт-амперных характеристик постоянного тока (модель 4200-SMU), полное сопротивление при переменном токе (модель 4210-CVU C-V), и определение сверхбыстрых или кратковременных вольт-амперных характеристик (4225-PMU).
Преимущества:
Модели 4225-PMU, 4200-SMU, 4210-CVU появятся в продаже в начале мая 2010 года.
Дополнительную информацию, можно узнать из презентации (англ.): http://keithley.acrobat.com/p77402742
О компании: Keithley Instruments Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|