|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
NI представляет PXI интерфейсы 1553, AFDX и ARINC 429 для испытаний авиационной продукции10.10.2009 Компания National Instruments представляет новые интерфейсные модули стандартов MIL-STD-1553, ARINC 429 и AFDX на базе платформы PXI, предназначенные для испытаний систем авиационной электроники военного и аэрокосмического назначения. Появление данных модулей стало результатом сотрудничества компании National Instruments с AIM, ведущим производителем авиационного электронного оборудования. С расширением модельного ряда платформы PXI интерфейсами от AIM, NI может предложить потребителям из сферы производства и разработки военной\аэрокосмической техники комплексное решение, включающее в себя интерфейсы авиационной электроники как часть системы, построенной на базе платформы NI-PXI. Данные модули позволяют полностью удовлетворить запросы разработчиков и испытателей военной и аэрокосмической техники, работающих с системами жёсткого реального времени и аппаратно-программными комплексами авиационной электроники. По словам Троя Трочински, директора компании AIM по перспективным разработкам и маркетингу, «Использование платформы PXI для аппаратно-программного тестирования получает всё большее распространение в системах испытания изделий военного и аэрокосмического назначения», «Мы заинтересованы в партнёрстве с NI для наиболее эффективного обеспечения потребителей необходимыми решениями. Сочетание нашего опыта в авионике с опытом компании National Instruments в области конфигурирования, обслуживания и поддержки систем на базе платформы PXI способно принести пользу всем, кто вовлечён в разработку и испытание военных\аэрокосмических систем». Заказчики из сферы производства и разработки военной\аэрокосмической техники обычно предпочитают комплексные системы одного производителя для обеспечения качественной системной интеграции, эффективной технической поддержки. Для военных\аэрокосмических систем также важна возможность поддерживать обмен данными по шинам, применяемым в изделиях авиационной электроники с помощью единой, модульной платформы, такой как PXI. Для удовлетворения этих требований и обеспечения потребителей интерфейсными модулями стандартов MIL-STD-1553, ARINC 429 и AFDX, компания NI вступила в сотрудничество с AIM Благодаря сотрудничеству с ведущими компаниями по производству и разработке изделий военного и аэрокосмического назначения по всему миру, мы смогли сделать вывод, что компания AIM является лидером в области производства интерфейсов, используемых в авионике, рассказал Тим Фонтейн директор National Instruments по системам военного и эрокосмического назначения. «Мы хотели обеспечить наших потребителей широким спектром военных\аэрокосмических интерфейсов, легко сочетающихся со средой графического программирования и платформой синхронизации PXI. Мы заключили, что PXI модули на основе технологий AIM обеспечат наилучшую функциональность и отличную интеграцию с нашим программным обеспечением. Благодаря сотрудничеству с этой компанией, NI может предложить клиентам широкий спектр изделий на платформе PXI для использования в системах тестирования изделий военного\ аэрокосмического назначения.» Линейка AIM модулей стандарта PXI представляемых National Instruments включает одно-,двух и четырёхканальные интерфейсы MIL-STD-1553, восьми или 32-канальные интерфейсы ARINC 429 и двухканальный интерфейс AFDX. Каждый модуль включает в себя центральный процессор, процессоры шинных интерфейсов, встроенную память и генератор\декодер временного кода IRIG-B, расширяющий функциональные возможности модуля и улучшающий гибкость его работы. Все модули поддерживают возможность вывода сигнала на разъём задней панели. Также все модули совместимы с NI LabVIEW, NI LabVIEW Real-Time Module, NI LabWindows™/CVI, C и C++. Встроенный драйвер, а также поддержка анализатора\ визуализатора сигналов, передаваемых по шине, упрощают программирование, соблюдение требований API позволяющих легко переносить приложения с одной аппаратной платформы на другую. О компании: NI Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|