|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Новая модификация векторного анализатора спектра Keithley 2820A24.07.2009 Keithley Instruments, Inc., мировой лидер по производству прецизионной измерительной техники, представил новую модификацию популярной серии векторных анализаторов спектра Keithley 2820А. Векторные анализаторы спектра серии 2820А предназначены для работы в полосе частот 400 МГц…4 ГГц (модель 2820-04) и 400 МГц…6 ГГц (модель 2820-06). Новая модификация анализатора Keithley 2820A отличается значительно большим быстродействием по сравнению с предыдущей версией. Время настройки на частоту составляет теперь 250 мкс. Напомним, что векторный анализатор Keithley 2820 имеет 2 режима управления: с передней панели и от персонального компьютера. Теперь в режиме управления от персонального компьютера данные через DSP-процессор от анализатора спектра передаются со скоростью 100 мегабит/сек. Это в 25 раз быстрее, чем в предыдущей версии векторного анализатора. Кроме того, в новой модификации векторного анализатора 2820A используется, как однокомандная, так и многооперационная техника для минимизации времени тестирования. Важно также отметить, что увеличение общей скорости обработки данных не вызвало ухудшения качественных показателей прибора. Так, например, уровень фазовых шумов (опционально) составляет <143 дБс/Гц при отстройке 300 кГц, что обеспечивает динамический диапазон EVM измерений –48 дБ для WLAN 802.11n. При этом, скорость перестройки на новую частоту меньше 1 мс. В дополнение к опции низкого уровня фазовых шумов модели 2820A имеют встроенный предусилитель, при этом средний уровень шумов составляет –143 дБм/Гц. Кроме ранее имеющихся возможностей векторного анализа GSM, EDGE, EDGE Evolution, W-CDMA, HSDPA, CDMA ONE, CDMA2000, 802.11 WLAN и 802.16e WiMAX систем, модели 2820A могут теперь применяться и для анализа 3GPP Release 7, HSPA+ сигналов. А также, как и ранее, применяться в различных конфигурациях многоканальных MIMO систем. О компании: Keithley Instruments Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|