 |
 |
|
 |
| EN |
|
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
Информация
|
Новости компаний
24.09.2012 | 1972
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске анализаторов Agilent U3055A/U3056A SerialTek BusXpert PRO II 12G SAS/SATA. Оба анализатора предназначены для работы с интерфейсами накопителей SAS (Serial Attached SCSI), работающих со скоростью 12 Гбит/с, и SATA (Serial ATA), работающих со скоростью 6 Гбит/с.
18.09.2012 | 1943
Компании Agilent Technologies и AT4 wireless объявили о подписании окончательного соглашения о приобретении компанией Agilent подразделения Test Systems, принадлежащего AT4 wireless. Расположенная в испанском городе Малаге частная компания AT4 wireless является глобальным поставщиком контрольно-измерительных услуг и решений для беспроводной связи.
12.09.2012 | 2138
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске однополюсного коаксиального коммутатора с переключающим контактом, питающегося по интерфейсу USB и работающего в диапазоне частот от 0 до 18 ГГц. Первый на рынке СВЧ коммутатор с управлением от USB порта Agilent U1810B предоставляет инженерам-разработчикам и производственникам долговечное решение, обеспечивающее удобную коммутацию ВЧ сигналов.
11.09.2012 | 1970
30 августа 2012 состоялась пресс-конференция Agilent Technologies, посвященная решениям для анализа и тестирования беспроводных сетей последнего поколения LTE/LTE-Advanced. На мероприятие были приглашены представители ведущих изданий России в области телекоммуникаций, электроники и контрольно-измерительной техники.
Рэнди Беккер и Рено Дюверн, эксперты в области тестирования беспроводных сетей компании Agilent Technologies, рассказали об основных тенденциях развития сетей, а также анонсировали выход 14 новых моделей уникального комбинированного СВЧ-анализатора FieldFox. 06.09.2012 | 1939
Компания Agilent Technologies объявила о разработке новых технологий и серьезных достижениях в области проектирования ВЧ усилителей мощности. Эти новые возможности войдут в состав следующей версии системы автоматизированного проектирования ADS компании Agilent.
29.08.2012 | 2409
Компания Agilent Technologies подготовила для своих Заказчиков обширную осеннюю программу семинаров. Мероприятия по самым разным тематикам будут проходить сразу в нескольких российских городах.
23.08.2012 | 2096
Компания Agilent Technologies представила пять новых моделей векторного анализатора цепей PNA-L, предлагающих разработчикам и производственным инженерам превосходные характеристики (диапазон частот до 50 ГГц) для анализаторов среднего класса, а также невысокую цену и перспективные возможности.
20.08.2012 | 2155
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске широкополосного векторного анализатора сигналов MIMO PXI, обеспечивающего самую широкую в отрасли полосу анализа. Новый анализатор позволяет ученым и инженерам проверять устройства MIMO 802.11ac, обеспечивая уникальное сочетание точности, быстродействия, широкой полосы анализа и масштабируемости в одном компактном приборе.
15.08.2012 | 2401
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске первого двухканального векторного анализатора сигналов стандарта PXI, обеспечивающего широкополосную, независимо настраиваемую, двухканальную, непрерывную регистрацию данных. Этот прибор представляет собой новую конфигурацию анализатора Agilent M9392A и позволяет ученым и инженерам обнаруживать и идентифицировать источники ВЧ помех даже в условиях плотной городской застройки, отличающейся наличием множества паразитных сигналов.
08.08.2012 | 2077
Компания Agilent Technologies пополнила семейство измерителей иммитанса новым прибором E4982A. Эта модель обладает наилучшими характеристиками для применения в производстве таких пассивных компонентов как индуктивности поверхностного монтажа и помехоподавляющие фильтры, при изготовлении которых требуется измерение импеданса на частотах от 1 МГц до 3 ГГц. Внушительный список измерительных возможностей позволяет рекомендовать E4982A также для использования в научно-исследовательских и опытно-конструкторских работах, а также для контроля качества продукции.
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|
