EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости компаний

RSS

20.05.2008 | 3678
Академический форум в рамках конференции NIWeek 2008 Вот уже более 5 лет компания National Instruments проводит активную деятельность в рамках своей Образовательной программы. 4 августа 2008 года в рамках международной конференции NIWeek 2008 в г. Остин (штат Техас) пройдет специальный академический форум (Academic Forum), который будет посвящен исключительно образовательной сфере и применению в ней самых современных измерительных и компьютерных технологий.
08.05.2008 | 3557
Новая серия столов АКТАКОМ с антистатической столешницей: невидимый «киллер» обезврежен! ESD-защищенная зона от АКТАКОМ - это, прежде всего, рабочий стол с антистатической столешницей высокого качества, соответствующего международному стандарту IEC 61340-5-1/2...
07.05.2008 | 4208
Обновление в линейке цифровых осциллографов Tektronix Поистине народная линейка цифровых осциллографов Tektronix TDS3000 пережила очередное обновление. Встречайте новую ее модификацию: осциллографы TDS3000C!
04.05.2008 | 7063
NI LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition 2.5 теперь поддерживает новые осциллографы Tektronix DPO3000 компания National Instruments объявила о поддержке новых недорогих осциллографов Tektronix последней версией программного обеспечения LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition. Напомним, что LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition – это программный пакет для интерактивных измерений на базе ПК, который позволяет быстро собирать, обрабатывать данные и представлять результаты, совершенно не прибегая к процедурам программирования. Используя LabVIEW SignalExpress Tektronix Edition 2.5, вы можете управлять осциллографами недорогой линейки Tekronix, включающую новые цифровые люминесцентные осциллографы Tektronix DPO3000 и TDS3000C, а также осциллографы для смешанных сигналов MSO4000, со своего компьютера с помощью простой в использовании среды.
04.05.2008 | 3644
С 22 по 24 апреля 2008 года в деловом центре Кимберли-Лэнд прошел ежегодный семинар компании Agilent Technologies. Это ставшее уже традиционным мероприятие посетили более 250 специалистов из ведущих научно-исследовательских центров, конструкторских бюро, ВУЗов. Традиционно высокий интерес к семинару проявили представители государственных структур и специалисты из оборонной и аэрокосмической отраслей, а на сессию, посвященную контрольно-измерительному оборудованию для телекоммуникационной отрасли, своих представителей направили все ведущие операторы мобильной и проводной связи.
03.05.2008 | 6656
Теперь NI LabVIEW поддерживает ведущие в отрасли микроконтроллеры ARM в качестве целевой платформы компании National Instruments и ARM объявили о выходе нового модуля LabVIEW для ARM-микроконтроллеров NI LabVIEW Embedded Module for ARM Microcontrollers, который является расширением платформы графического программирования LabVIEW и позволяет использовать в качестве целевых платформ следующие семейства микроконтроллеров: ARM 7™, ARM 9™ и Cortex™-M3. Представленный модуль – первый плод сотрудничества компаний, он позволяет использовать LabVIEW для программирования высокопроизводительных ARM-микроконтроллеров.
30.04.2008 | 3943
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске решения для внутрисхемного тестирования (ICT) устройств с ограниченным доступом, позволяющего обойтись без физических контрольных точек и обладающего преимуществами, которые не может предложить традиционный метод тестирования VTEP. Являясь частью расширенного тестового комплекта Agilent’s VTEP v2.0, технология расширенного покрытия Agilent Cover-Extend представляет собой комбинацию двух методов тестирования, широко применяющихся в электронной промышленности: периферийное сканирование (Boundary Scan) и безвекторное тестирование VTEP.
29.04.2008 | 4014
На прошедшем в Японии мероприятии DisplayPort PlugTest компания Agilent Technologies продемонстрировала первое полностью автоматическое решение для проверки совместимости на физическом уровне приемников DisplayPort, удовлетворяющее требованиям спецификаций тестирования совместимости DisplayPort. В феврале решение для тестирования источников DisplayPort от компании Agilent было одобрено в качестве первого решения для проверки совместимости источников VESA DisplayPort.
29.04.2008 | 3863
На выставке CTIA Wireless 2008, проходившей в Лас-Вегасе, компании Agilent Technologies и NextWave Wireless, глобальные поставщики мобильных мультимедийных решений и широкополосных беспроводных технологий, объявили о том, что NextWave будет использовать измерительное решение компании Agilent для беспроводных сетей для ускорения внедрения устройств Mobile WiMAX на основе чипсетов NextWave.
28.04.2008 | 3934
Новинка! Токовые клещи-ваттметр АТК-2209 Актаком В семействе токовых клещей АКТАКОМ появилась новая модель! Этот многофункциональный прибор позволяет измерять значение активной, реактивной и полной мощности в трех- и четырехпроводных трехфазных цепях, трехфазных цепях с симметричной нагрузкой, двух- и трехпроводных однофазных цепях...

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
29.11.1803
Родился австрийский физик
Кристиан Доплер
29.11.1849
Родился английский ученый, изобретатель первой электронной лампы
Джон Амброз Флеминг
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.