|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Новая технология расширенного покрытия Agilent Technologies позволяет обойтись без физических контрольных точек при внутрисхемном тестировании30.04.2008 Компания Agilent Technologies объявила о выпуске решения для внутрисхемного тестирования (ICT) устройств с ограниченным доступом, позволяющего обойтись без физических контрольных точек и обладающего преимуществами, которые не может предложить традиционный метод тестирования VTEP. Являясь частью расширенного тестового комплекта Agilent’s VTEP v2.0, технология расширенного покрытия Agilent Cover-Extend представляет собой комбинацию двух методов тестирования, широко применяющихся в электронной промышленности: периферийное сканирование (Boundary Scan) и безвекторное тестирование VTEP. В отличие от традиционного теста VTEP, которому необходимы физические контрольные точки на печатной плате для подачи испытательных сигналов, технология Cover-Extend компании Agilent использует сигналы, предоставляемые ячейками периферийного сканирования, которым не нужны физические контрольные точки. Преимущества этой технологии:
“Технология Cover-Extend призвана решить ключевые проблемы современного производства – проблемы затрат, покрытия, качества и скорости”, – сказал Даниэль Мак, вице-президент и генеральный менеджер отдела измерительных систем компании Agilent. “Отзывы, поступающие от наших потребителей, весьма положительны, и в апреле мы собираемся внедрить технологию Cover-Extend в крупномасштабное промышленное производство у некоторых наших клиентов”. Более подробную информацию о комплекте для безвекторного тестирования Agilent Medalist VTEP v2.0 Powered можно получить на сайте www.agilent.com/see/vtep. О компании: Keysight Technologies Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|