![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости National Instruments
Новости компаний
15.06.2010 | 3074
Компания National Instruments представила новый адаптерный модуль FlexRIO для платформы PXI, обладающий высокоэффективной архитектурой с распараллеливанием процессов на ПЛИС, благодаря чему на аппаратной части можно реализовать предварительную обработку изображения с высокоточным тактированием, а также необходимые циклы по управлению потоком данных. Новый адаптерный модуль интерфейса Camera Link NI 1483 в комбинации с FlexRIO представляет собой гибкое и высоконадежное встраиваемое решение для внедрения алгоритмов технического зрения и управления непосредственно на ПЛИС. Специалисты смогут использовать ПЛИС для обработки и анализа изображений в режиме реального времени не затрачивая ресурсы центрального процессора.
10.06.2010 | 3566
National Instruments объявила о выходе модулей со встроенными цепями согласования сигналов для высокоточных, многоканальных и масштабируемых измерений на базе платформы PXI Express. Новая линейка модулей NI SC Express обладает повышенной точностью, высокой пропускной способностью данных и лучшими в своем классе возможностями для измерений с датчиков деформаций, термопар и высоковольтного аналогового ввода. Технология PXI Express обеспечивает пропускную способность 250 МБ/сек для каждого модуля SC Express в шасси. Такая пропускная способность позволит увеличивать число каналов в системе, не уменьшая частоту тактирования и точность сбора данных. За счет компактного форм-фактора, удобного подключения кабелей и новых возможностей программного обеспечения для синхронизации, модули SC Express упрощают процесс установки и настройки многоканальных измерительных систем.
14.05.2010 | 2744
Компания National Instruments объявила о планах проведения NIWeek, самой известной в мире конференции по системам графического проектирования и выставке, которая ежегодно собирает более 3300 инженеров, ученых и представителей научного сообщества со всех уголков земного шара. 16-я конференция NIWeek 2010 открывается 3 августа в Austin Convention Center в г. Остин (штат Техас, США). В течение 3-х дней будут проводиться технические саммиты, сессии и презентации, интерактивные демонстрации и выступления руководителей NI. Участники NIWeek 2010 смогут повысить свои технические знания, узнать о применении систем графической разработки приложений для задач тестирования и измерений, а также пообщаться с коллегами и разработчиками компании National Instruments.
05.05.2010 | 3322
National Instruments приняла участие в качестве официального партнера во Втором всероссийском робототехническом фестивале, одном из крупнейших в России мероприятий в области инновационных технологий, робототехники и мехатроники среди детей и молодежи. NI LabVIEW стала официальной средой разработки Программы «Робототехника: инженерно-технические кадры инновационной России», а NI Single-Board RIO – официальной платформой для систем управления роботами.
02.04.2010 | 3169
Компания National Instruments приглашает Вас и Ваших коллег принять участие в бесплатном семинаре «Технологии National Instruments для тестирования и разработки радиоэлектронных комплексов и систем», который пройдет 15 апреля 2010 года в Екатеринбурге в Большом конференц-зале гостиницы "Гранд Авеню Отель".
30.03.2010 | 5007
Компания National Instruments представила NI USB-TC01 – USB-устройство автоматического сбора данных для измерения и записи температурных данных с термопары. Новое устройство сочетает быструю и простую настройку с высоким качеством исполнения.
10.03.2010 | 3479
Компания National Instruments представила новые векторные генераторы и анализаторы ВЧ-сигналов в двухканальном, трехканальном и четырех канальном исполнении для разработки и тестирования устройств с большим числом входных и выходных каналов (MIMO).
03.03.2010 | 3286
Компания National Instruments представила два новых промышленных контроллера автоматизации (PACs) CompactRIO, оптимизированных для решения задач высокоскоростных измерений и управления в широком температурном диапазоне (от -40 до +70˚С).
01.03.2010 | 2977
Компания National Instruments приглашает принять участие в семинаре «Технологии National Instruments для тестирования и разработки радиоэлектронных комплексов и систем». Семинар пройдет 23 марта 2010 года в Москве в гостинице "Салют" по адресу Ленинский пр-т, д.158 (ст.м. "Юго-Западная").
01.03.2010 | 2842
Компании National Instruments и Tektronix объявили об открытии регистрации на семинар «Измерительное оборудование и методы анализа при проектировании встраиваемых систем». Семинар будет проводиться в период с 2 марта по 18 мая в 11 городах США. Участие в семинаре бесплатно. Семинар предназначен для инженеров-проектировщиков встраиваемых систем для повышения эффективности процесса проектирования и рассчитан на половину рабочего дня.
|
События из истории измерений
|