EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости компаний

RSS

24.06.2008 | 3609
Федеральное Агентство по промышленности РФ и компания Agilent Technologies подписали меморандум о стратегическом партнерстве 8 апреля 2008 года состоялась встреча руководства Федерального Агентства по промышленности РФ в лице начальника Управления радиоэлектронной промышленности и систем управления Суворова А.Е. и главы российского представительства Agilent Technologies Смирновой Г.В. В ходе встречи обсуждались вопросы участия Agilent Technologies в реализации приоритетных национальных проектов по развитию российских промышленных предприятий. Именно Федеральное Агентство по промышленности РФ, как ведущее ведомство, отвечающее за разработку технологий и оборудования в радиоэлектронной и других отраслях промышленности, курирует программу по созданию и развитию инфраструктуры для российских предприятий, работающих в области проектирования электроники и радиоэлектронных систем.
23.06.2008 | 4893
Новый портативный радиотестер Agilent Technologies - функциональное тестирование одним нажатием кнопки Компания Agilent Technologies представила прочный портативный радиотестер, позволяющий одним нажатием кнопки тестировать радиостанции ЧМ и SINCGARS (одноканальная система радиосвязи земля-воздух) как на оперативном уровне, так и на уровне военных ремонтных мастерских. Самую сложную диагностику можно выполнить одним нажатием кнопки, что значительно снижает время на обучение, ускоряет поиск и устранение неисправностей оборудования. Кроме того, в зависимости от требований тестирования, технические специалисты могут воспользоваться встроенным анализатором спектра, анализатором электрических цепей, генератором сигналов или анализатором сигналов, что позволяет обойтись без большого комплекта контрольно-измерительных приборов.
07.06.2008 | 3636
Новые версии мультистандартных цифровых измерительных приемников Agilent Technologies

На выставке CTIA Wireless, прошедшей в Лас-Вегасе, компания Agilent Technologies представила шесть новых моделей цифровых измерительных приемников W1314A расширенного диапазона. Они предназначены для одновременного измерения параметров всех беспроводных технологий во всех ВЧ диапазонах с помощью одного прибора.

05.06.2008 | 4378
Компании Agilent Technologies, Трим и Orbit/FR проводят совместный семинар по антенным измерениям Компании Agilent Technologies (Российское представительство), «НПП «ТРИМ СШП Измерительные системы», (Санкт-Петербург) и “ORBIT/FR Engineering” Ltd (Израиль) проводят уникальный семинар, посвященный антенным измерениям.
04.05.2008 | 3644
С 22 по 24 апреля 2008 года в деловом центре Кимберли-Лэнд прошел ежегодный семинар компании Agilent Technologies. Это ставшее уже традиционным мероприятие посетили более 250 специалистов из ведущих научно-исследовательских центров, конструкторских бюро, ВУЗов. Традиционно высокий интерес к семинару проявили представители государственных структур и специалисты из оборонной и аэрокосмической отраслей, а на сессию, посвященную контрольно-измерительному оборудованию для телекоммуникационной отрасли, своих представителей направили все ведущие операторы мобильной и проводной связи.
30.04.2008 | 3943
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске решения для внутрисхемного тестирования (ICT) устройств с ограниченным доступом, позволяющего обойтись без физических контрольных точек и обладающего преимуществами, которые не может предложить традиционный метод тестирования VTEP. Являясь частью расширенного тестового комплекта Agilent’s VTEP v2.0, технология расширенного покрытия Agilent Cover-Extend представляет собой комбинацию двух методов тестирования, широко применяющихся в электронной промышленности: периферийное сканирование (Boundary Scan) и безвекторное тестирование VTEP.
29.04.2008 | 4014
На прошедшем в Японии мероприятии DisplayPort PlugTest компания Agilent Technologies продемонстрировала первое полностью автоматическое решение для проверки совместимости на физическом уровне приемников DisplayPort, удовлетворяющее требованиям спецификаций тестирования совместимости DisplayPort. В феврале решение для тестирования источников DisplayPort от компании Agilent было одобрено в качестве первого решения для проверки совместимости источников VESA DisplayPort.
29.04.2008 | 3863
На выставке CTIA Wireless 2008, проходившей в Лас-Вегасе, компании Agilent Technologies и NextWave Wireless, глобальные поставщики мобильных мультимедийных решений и широкополосных беспроводных технологий, объявили о том, что NextWave будет использовать измерительное решение компании Agilent для беспроводных сетей для ускорения внедрения устройств Mobile WiMAX на основе чипсетов NextWave.
24.03.2008 | 4642
Анализатор питания постоянного тока N6705A На выставке ЭкспоЭлектроника 2008 Agilent Technologies представит уникальный продукт — анализатор питания постоянного тока N6705A, который за 7 месяцев, прошедших с момента его выхода на рынок, получил всеобщее признание и завоевал ряд престижных наград, в том числе был назван «лучшим контрольно-измерительный прибором 2008 года» (Test and Measurement World), «прибором года 2007» (Electronic Products), получил награду Golden Mousetrap Award 2007 (Design News).
21.03.2008 | 3793
22-24 апреля 2007 года компания Agilent Technologies, мировой лидер в производстве контрольно-измерительного оборудования, будет проводить ежегодный трехдневный бесплатный семинар NPI. Это мероприятие стало уже традиционным и, по сути, является уникальным событием в отрасли КИП, привлекающим несколько сот специалистов каждый год.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
29.11.1803
Родился австрийский физик
Кристиан Доплер
29.11.1849
Родился английский ученый, изобретатель первой электронной лампы
Джон Амброз Флеминг
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.