 | (574) |
 | (121) |
 | (134) |
 | (78) |
 | (666) |
 | (24) |
 | (265) |
 | (20) |
 | (96) |
 | (558) |
 | (225) |
 | (23) |
 | (132) |
 | (154) |
|
Новости National Instruments
Новости компаний
26.10.2017 | 1536
1 ноября 2017 г. в Ярославле компания National Instruments проводит семинар, посвященный применению технологий модульных приборов и программно-определяемых радиоизмерительных систем при решении исследовательских и инженерных задач.
06.10.2017 | 1521
Компания National Instruments приглашает принять участие в семинаре "ВЧ Платформа National Instruments для разработки и тестирования радиосредств и ЭКБ", который пройдёт 10 октября 2017 в Киеве. В ходе семинара будут представлены новинки компании для автоматизации измерений и тестирования компонентов и узлов электронных и радиотехнических систем, а также решения для цифровой обработки радиосигналов, макетирования сложных СВЧ систем, тестирования радиоэлектронных устройств и ЭКБ.
22.09.2017 | 1396
Компания National Instruments приглашает принять участие в VII Петербургском форуме для предприятий радиоэлектронной промышленности. Мероприятие пройдёт 27 сентября 2017 г в Санкт-Петербурге.
Технический семинар будет посвящен применению технологий модульных приборов и программно-определяемых радиоизмерительных систем при решении исследовательских и инженерных задач радиотехники.
14.09.2017 | 1475
19 сентября 2017 в Москве компания National Instruments проведёт технический семинар, посвященный применению технологий модульных приборов для построения автоматизированных систем тестирования, КПА и тестеров ЭКБ.
Будут рассмотрены такие задачи, как создание стендов тестирования и КПА для блоков и систем различной направленности, входной и выходной контроль ЭКБ, интеллектуальное тестирование сложных систем с помощью полунатурного моделирования и программно-аппаратной имитации подсистем.
06.09.2017 | 1517
Компания National Instruments, разработчик систем, основанных на платформах, которые позволяют инженерам и научным работникам решать сложнейшие инженерные задачи, сообщает о выпуске монополосной модели векторного приемопередатчика (Vector Signal Transceiver (VST).
18.08.2017 | 1395
22 августа компания National Instruments проводит вебинар «Основы и терминология сбора данных». В ходе вебинара предлагается изучить основы и терминологию сбора данных, а также основные составляющие процесса и принципы выполнения измерений.
18.07.2017 | 1520
29 июля 2017 в Москве компания National Instruments проводит крупнейшее мероприятие, посвященное программированию – LabVIEW Developer Days.
Данный семинар предназначен для инженеров и исследователей, которые хотят улучшить свои навыки в программировании LabVIEW.
12.07.2017 | 1545
Компания National Instruments, разработчик систем, основанных на платформах, которые позволяют инженерам и учёным решать сложнейшие инженерные задачи, сообщает о выпуске двух новых Ethernet-шасси с несколькими слотами. В шасси cDAQ-9185 и cDAQ-9189 на основе новейших стандартов Ethernet, реализована новая технология синхронизации по времени, развивающая усилия NI в области времячувствительных сетей (Time Sensitive Networking - TSN), и надежного оборудования CompactDAQ для распределенных измерений.
03.07.2017 | 1517
Вебинар пройдёт 7 июля 2017 г. Узнайте, как программный модуль LabVIEW FPGA позволяет воспользоваться методами графической разработки в LabVIEW на реконфигурируемой ПЛИС от NI. Проводите измерения при помощи пользовательских систем ввода-вывода и управляйте оборудованием без его описания на низком уровне, без разработок уровня печатной платы.
21.06.2017 | 1585
National Instruments, разработчик систем, основанных на платформах, которые позволяют инженерам и учёным решать сложнейшие инженерные задачи, сообщает о выпуске LabVIEW NXG 1.0, первой версии следующего поколения LabVIEW – программного обеспечения для проектирования инженерных систем. LabVIEW NXG объединяет конфигурационное ПО и специализированные языки программирования, используя инновационный, новый подход к автоматизации измерений, который позволяет специалистам в конкретных областях знаний сосредоточиться на самом главном – на своей задаче, а не на инструменте, с помощью которого она будет решаться.
|
События из истории измерений
|