EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости компаний

RSS

15.06.2010 | 3124
Компания National Instruments представила новый адаптерный модуль FlexRIO для обработки изображений на ПЛИС с видеокамер на базе интерфейса Camera Link Компания National Instruments представила новый адаптерный модуль FlexRIO для платформы PXI, обладающий высокоэффективной архитектурой с распараллеливанием процессов на ПЛИС, благодаря чему на аппаратной части можно реализовать предварительную обработку изображения с высокоточным тактированием, а также необходимые циклы по управлению потоком данных. Новый адаптерный модуль интерфейса Camera Link NI 1483 в комбинации с FlexRIO представляет собой гибкое и высоконадежное встраиваемое решение для внедрения алгоритмов технического зрения и управления непосредственно на ПЛИС. Специалисты смогут использовать ПЛИС для обработки и анализа изображений в режиме реального времени не затрачивая ресурсы центрального процессора.
10.06.2010 | 3623
National Instruments представила высокопроизводительные платы сбора данных со встроенным согласованием в формате PXI Express National Instruments объявила о выходе модулей со встроенными цепями согласования сигналов для высокоточных, многоканальных и масштабируемых измерений на базе платформы PXI Express. Новая линейка модулей NI SC Express обладает повышенной точностью, высокой пропускной способностью данных и лучшими в своем классе возможностями для измерений с датчиков деформаций, термопар и высоковольтного аналогового ввода. Технология PXI Express обеспечивает пропускную способность 250 МБ/сек для каждого модуля SC Express в шасси. Такая пропускная способность позволит увеличивать число каналов в системе, не уменьшая частоту тактирования и точность сбора данных. За счет компактного форм-фактора, удобного подключения кабелей и новых возможностей программного обеспечения для синхронизации, модули SC Express упрощают процесс установки и настройки многоканальных измерительных систем.
14.05.2010 | 2788
Конференция NIWeek 2010 – уникальная возможность знакомства с самыми современными измерительными технологиями Компания National Instruments объявила о планах проведения NIWeek, самой известной в мире конференции по системам графического проектирования и выставке, которая ежегодно собирает более 3300 инженеров, ученых и представителей научного сообщества со всех уголков земного шара. 16-я конференция NIWeek 2010 открывается 3 августа в Austin Convention Center в г. Остин (штат Техас, США). В течение 3-х дней будут проводиться технические саммиты, сессии и презентации, интерактивные демонстрации и выступления руководителей NI. Участники NIWeek 2010 смогут повысить свои технические знания, узнать о применении систем графической разработки приложений для задач тестирования и измерений, а также пообщаться с коллегами и разработчиками компании National Instruments.
05.05.2010 | 3363
National Instruments выступила Официальным партнером Второго Всероссийского робототехнического фестиваля National Instruments приняла участие в качестве официального партнера во Втором всероссийском робототехническом фестивале, одном из крупнейших в России мероприятий в области инновационных технологий, робототехники и мехатроники среди детей и молодежи. NI LabVIEW стала официальной средой разработки Программы «Робототехника: инженерно-технические кадры инновационной России», а NI Single-Board RIO – официальной платформой для систем управления роботами.
02.04.2010 | 3218
Технологии National Instruments на семинаре в Екатеринбурге Компания National Instruments приглашает Вас и Ваших коллег принять участие в бесплатном семинаре «Технологии National Instruments для тестирования и разработки радиоэлектронных комплексов и систем», который пройдет 15 апреля 2010 года в Екатеринбурге в Большом конференц-зале гостиницы "Гранд Авеню Отель".
30.03.2010 | 5088
Быстрое и точное измерение температуры с новым USB-устройством от National Instruments Компания National Instruments представила NI USB-TC01 – USB-устройство автоматического сбора данных для измерения и записи температурных данных с термопары. Новое устройство сочетает быструю и простую настройку с высоким качеством исполнения.
10.03.2010 | 3526
National Instruments представила когерентную систему векторного анализа и генерации ВЧ-сигналов Компания National Instruments представила новые векторные генераторы и анализаторы ВЧ-сигналов в двухканальном, трехканальном и четырех канальном исполнении для разработки и тестирования устройств с большим числом входных и выходных каналов (MIMO).
03.03.2010 | 3337
Компания National Instruments представила новые контроллеры CompactRIO с расширенным диапазоном рабочих температур Компания National Instruments представила два новых промышленных контроллера автоматизации (PACs) CompactRIO, оптимизированных для решения задач высокоскоростных измерений и управления в широком температурном диапазоне (от -40 до +70˚С).
01.03.2010 | 3024
Семинар National Instruments в Москве Компания National Instruments приглашает принять участие в семинаре «Технологии National Instruments для тестирования и разработки радиоэлектронных комплексов и систем». Семинар пройдет 23 марта 2010 года в Москве в гостинице "Салют" по адресу Ленинский пр-т, д.158 (ст.м. "Юго-Западная").
01.03.2010 | 2897
Совместные семинары National Instruments и Tektronix в США Компании National Instruments и Tektronix объявили об открытии регистрации на семинар «Измерительное оборудование и методы анализа при проектировании встраиваемых систем». Семинар будет проводиться в период с 2 марта по 18 мая в 11 городах США. Участие в семинаре бесплатно. Семинар предназначен для инженеров-проектировщиков встраиваемых систем для повышения эффективности процесса проектирования и рассчитан на половину рабочего дня.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
29.11.1803
Родился австрийский физик
Кристиан Доплер
29.11.1849
Родился английский ученый, изобретатель первой электронной лампы
Джон Амброз Флеминг
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.