EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости компаний

RSS

14.09.2010 | 3028
Среда NI VeriStand 2010 оптимизирована для использования с широким спектром платформ National Instruments Компания National Instruments представила программное обеспечение NI VeriStand 2010, обладающее усовершенствованными возможностями для аппаратно-программного моделирования (HIL) и испытаний в реальном времени, благодаря поддержке широкого спектра оборудования National Instruments. Данное ПО также обладает тесной интеграцией со средой графической разработки NI LabVIEW, позволяя производить дальнейшее конфигурирование программ LabVIEW в NI VeriStand.
09.09.2010 | 5450
National Instruments представляет новый модуль интеррогатора для сбора данных с оптических датчиков Компания National Instruments объявила о выходе модуля интеррогатора NI PXIe-4844 в форм-факторе PXI Express для сбора данных с оптических датчиков FBG (fiber Bragg grating). В отличие от широко распространенных электрических датчиков, новые модули позволяют проводить распределенные измерения в зонах с повышенным уровнем ЭМИ.
06.08.2010 | 2625
NIWeek 2010: итоги работы Вчера, 5 августа 2010 г., завершила свою работу NIWeek 2010 – ведущая конференция и выставка по системам графического проектирования. Подведем итог наиболее ярких событий конференции.
05.08.2010 | 2627
Интервью с Вице-президентом по продажам в азиатском регионе компании National Instruments 4 августа, в рамках конференции NIWeek 2010 нашему журналу дал интервью Виктор Мерес (Victor Mieres), Вице-президент по продажам в азиатском регионе компании National Instruments. В частности, он ответил на вопросы, касающиеся стратегии развития компании и продвижения продукции на российском рынке, развития направления устройств сбора данных формата PCI/PXI Express и разработки новых продуктов. Нам также удалось побеседовать с Брайаном Беттсом, старшим менеджером группы продукции по сбору данных (Brian Betts, Sr. Group Manager Data Acquisition).
04.08.2010 | 2527
Первый день работы NIWeek 2010    Во вторник, 3 августа, состоялся первый день ведущей конференции и выставки по системам графического проектирования NIWeek 2010. Были представлены лучшие разработки National Instruments в этом году, среди них: векторный анализатор цепей на базе PXI, новая версия LabView и новая платформа сбора данных с интерфейсом Ethernet. Вечером, в банкетном зале отеля «Four Sesons» состоялось награждение лучших разработок на базе программного обеспечения NI.
03.08.2010 | 2384
Открытие и Первый день конференции NIWeek 2010 Сегодня, 3 августа, тысячи наиболее выдающихся инженеров, ученых, изобретателей, преподавателей и студентов собираются в г.Остин (штат Техас, США) на NIWeek 2010 - ведущей конференции и выставке по системам графического проектирования.
02.08.2010 | 3114
Платформа машинного зрения National Instruments с поддержкой ОС Windows 7 и интерфейсом Camera Link Компания National Instruments объявила о выходе систем машинного зрения на базе ОС Windows с интерфейсом Camera Link. Новые системы NI EVS-1463 и EVS-1464 имеют встроенный жесткий диск, объемом 80 ГБ, достаточный для хранения видеоданных. Все вышеперечисленные системы дополняют модельный ряд встраиваемых систем машинного зрения компании National Instruments, включающий систему EVS-1464RT c интерфейсами камер GigE Vision и IEEE 1394b.
24.07.2010 | 4523
Платы сбора данных M и Х серии, а так же модульные источники питания компании National Instruments внесены в Госреестр СИ Модули компании National Instruments М- серии (6343, 6356, 6363, 6366, 6368) и Х- серии (NI 6221, 6251, 6255, 6259, 6281) и источники питания NI PXI 4110, 4130 зарегистрированы в Государственном реестре средств измерений и допущены к применению в Российской Федерации.
28.06.2010 | 2959
National Instruments расширяет возможности платформы NI-XNET для встроенных сетей Добавлена поддержка шины связи LIN для платформы NI-XNET. Новые интерфейсы PXI и PCI идеальны для аппаратно-программного моделирования, быстродействующего регулирования, мониторинга передачи данных по шине связи и автоматизированного управления.
21.06.2010 | 3392
National Instruments представила новые интерфейсные модули для промышленных сетей Компания National Instruments объявила о выходе интерфейсных модулей для промышленных сетей PROFIBUS, FOUNDATION Fieldbus и DeviceNet, которые позволяют интегрировать среду разработки LabVIEW , программируемые логические контроллеры (ПЛК) и встраиваемые системы в существующие промышленные сети. Новые интерфейсные модули позволяют расширить функциональность промышленных сетей и добавить возможности высокоскоростного сбора данных, обработки, дополнительных возможностей управления и внедрения web-технологий для повышения эффективности производственного процесса. Модули C-серии NI CompactRIO PROFIBUS позволяют подключать к сетям PROFIBUS промышленные системы CompactRIO и NI Single-Board RIO , которые обладают более высокой производительностью по сравнению со стандартными контроллерами для сетей PROFIBUS. Так же National Instruments представила однопортовый USB-модуль для интерфейса FOUNDATION Fieldbus и два мастер-модуля для сетей DeviceNet в формате PXI и PCI.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
29.11.1803
Родился австрийский физик
Кристиан Доплер
29.11.1849
Родился английский ученый, изобретатель первой электронной лампы
Джон Амброз Флеминг
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.