![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости National Instruments
Новости компаний
09.03.2017 | 1912
Семинар пройдёт 17 марта 2017 в Омске. В программе семинара: Платформенный подход к разработке, макетированию и тестированию радиосредств; Технология программно определяемого радио (SDR) для прототипирования систем радиосвязи; Сокращение времени и затрат в полевых испытаниях радиосредств; Подготовка инженерных кадров и образовательная программа National Instruments и другие темы.
03.03.2017 | 1723
National Instruments (Nasdaq: NATI), разработчик систем, основанных на платформах, которые позволяют инженерам и научным работникам решать сложнейшие инженерные задачи, сообщает об открытии своей новой лаборатории промышленного Интернета вещей в штаб-квартире NI в Остине.
20.02.2017 | 2098
Компания National Instruments приглашает всех желающих участвовать с докладом о результатах прикладных исследований, перспективных разработках и о примерах успешного внедрения высоких технологий в промышленности, науке и образовании. По итогам будет издан сборник трудов конференции, содержащий все принятые доклады. Сборник будет размещен в РИНЦ.
Конференция пройдёт с 13 по 14 апреля 2017 г. в Москве.
13.02.2017 | 1566
Семинар National Instruments «Практические решения для разработки и тестирования изделий электроники и радиотехники» пройдёт 17 февраля 2017 г. в Челябинске.
Посещение семинара будет полезно специалистам предприятий, занимающихся электрическими измерениями, контролем качества продукции, разработкой радиоэлектроники и АСУТП, научными исследованиями.
05.12.2016 | 2300
Вместе с последней версией программного обеспечения VeriStand и глобальной сетью партнеров для поддержки и интеграции NI выпускает HIL-системы, адаптированные под требования пользователя к испытаниям.
29.11.2016 | 2526
Компания National Instruments, разработчик систем, основанных на платформах, которые позволяют инженерам и научным работникам решать сложнейшие инженерные задачи, сообщает о партнерстве SparkCognition с NI и IBM для совместной работы над испытательным стендом для контроля состояния и предупредительного техобслуживания.
23.11.2016 | 2313
NI, разработчик систем, основанных на платформах, которые позволяют инженерам и научным работникам решать сложнейшие инженерные задачи, сообщает о выпуске осциллографа PXIe-5164.
08.11.2016 | 2503
XV международная конференция NIDays 2016 пройдёт 25 ноября в Москве, в Конгресс-центре МТУСИ. Конференция посвящена современным измерительным и информационным технологиям для построения автоматизированных систем тестирования, управления и мониторинга.
20.10.2016 | 2268
NI (Nasdaq: NATI), разработчик систем, основанных на платформах, которые позволяют инженерам и научным работникам решать сложнейшие инженерные задачи, анонсирует реконфигурируемый (RIO) модуль управления учебным лабораторным комплексом виртуальных измерительных приборов (NI ELVIS), новое дополнение учебной платформы NI ELVIS. Mодуль NI ELVIS RIO добавляет к платформе NI ELVIS, уже оснащенную эффективными средствами измерений, дополнительный набор решений для практического изучения систем энергетики, систем управления, программно-технического моделирования и мехатроники, построенный на базе лучшего в отрасли встроенного процессора реального времени и ПЛИС.
06.10.2016 | 2753
Последняя версия LabVIEW поддерживает более 500 новых измерительных приборов, включает 5 новых 64-разрядных программных модуля, поддерживает улучшенную интеграцию с Python.
|
События из истории измерений
30.08.1944
Дата основания
|