 |
 |
|
 |
| EN |
|
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
Информация
|
Новости компаний
17.03.2014 | 1659
Компания Agilent Technologies представила опцию импульсных измерений для своих ручных анализаторов FieldFox, которая призвана значительно упростить полевые испытания РЛС.
12.03.2014 | 1796
Компания Agilent Technologies Inc. представила новые генераторы сигналов серии 33600A, построенные на основе эксклюзивной технологии Trueform. Благодаря технологии Trueform эти приборы обеспечивают уникальные возможности по созданию полного набора сигналов, необходимых для выполнения широкого круга измерений при решении самых ответственных прикладных задач в процессе разработки и производства электронных устройств.
03.03.2014 | 1824
Компания Agilent Technologies Inc. выпустила новый анализатор характеристик печатных плат E5063A для определения параметров импеданса печатных плат в процессе производства. Это решение представляет собой технологический прорыв в области обеспечения высокой точности, стабильности и воспроизводимости результатов измерений. Анализатор E5063A имеет удобный специализированный пользовательский интерфейс с поддержкой нескольких языков и повышенную устойчивость к электростатическому разряду в условиях производства печатных плат.
19.02.2014 | 1737
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске решения для тестирования беспроводных устройств E6640A EXM, которое предлагает революционные возможности производственного тестирования – охват множества технологий, высокая производительность, одновременное тестирование до 32 устройств. EXM обладает высокой скоростью и точностью измерений и большим числом портов, что способствует сокращению времени тестирования и оптимизирует крупносерийное производство. Для ускорения разработки тестов в EXM имеется поддержка новейшей элементной базы сотовых телефонов и беспроводных адаптеров.
14.02.2014 | 1760
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске новых программных опций для систем тестирования T4010S LTE RF и T4020S LTE RRM. Новые возможности охватывают тестовые сценарии агрегации несущих LTE-Advanced в соответствии с требованиями спецификаций 3GPP.
10.02.2014 | 1883
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске атомно-силового микроскопа (АСМ) 7500 AFM – передового прибора, устанавливающего новые стандарты производительности, функциональности и эргономики для измерений и манипуляций в нанодиапазоне. Agilent 7500 обеспечивает атомарное разрешение за счет использования сканера с диапазоном 90 мкм с обратной связью позиционирования.
05.02.2014 | 1802
Компания Agilent Technologies представила лучшие в отрасли пробники для осциллографов, способные работать в условиях экстремальных температур. Несимметричный активный пробник N2797A является первым в отрасли недорогим высокоомным активным пробником с прочным наконечником, предназначенным для тестирования интегральных схем и других компонентов в климатических камерах.
31.01.2014 | 1882
Компания Agilent Technologies представила функцию декодирования символов CAN-dbc и запуска по ним для осциллографа InfiniiVision 4000X и всех осциллографов Infiniium, а также два дифференциальных активных пробника, которые идеально подходят для тестирования автомобильной электроники, включая измерение параметров последовательных шин CAN (Controller Area Network). Шины CAN широко применяются для управления и передачи сигналов датчиков в автомобильных приложениях, а также в различном промышленном и медицинском оборудовании.
27.01.2014 | 1650
Компания Agilent Technologies объявила о выходе книги «X-параметры: моделирование, проектирование и измерение характеристик нелинейных ВЧ- и СВЧ-компонентов», посвященной нелинейным X-параметрам – революционной технологии, которая предназначена для измерения и моделирования. В этой книге, опубликованной издательством Cambridge University Press, изложена полная теория X-параметров, а также приведены практические примеры её применения.
22.01.2014 | 3187
Сегодня в офисе компании Agilent Technologies прошло очередное интересное пресс-мероприятие, на котором были освещены самые свежие события из жизни компании, и представлены планы на будущее.
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|
