 | (574) |
 | (121) |
 | (134) |
 | (78) |
 | (666) |
 | (24) |
 | (265) |
 | (20) |
 | (96) |
 | (558) |
 | (225) |
 | (23) |
 | (132) |
 | (154) |
|
Новости компаний
Новости 1811 - 1820 из 3296
21.02.2014 | 2195
Компания Tektronix, Inc., ведущий производитель контрольно-измерительного оборудования 25 февраля 2014 года представит первый в мире осциллограф 6-в-1!
Ваше понимание того, на что способен осциллограф скоро изменится!
20.02.2014 | 1898
Московское представительство Rohde & Schwarz приглашает Вас 20 и 21 февраля 2014 года посетить VIII-ую Международную отраслевую научно-техническую конференцию “Технологии информационного общества”. В рамках конференции специалисты компании выступят с докладом на тему «Оборудование SwissQual - аппаратно-программные комплексы для проведения радиоизмерений, драйв тестов и бенчмаркинга».
19.02.2014 | 1757
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске решения для тестирования беспроводных устройств E6640A EXM, которое предлагает революционные возможности производственного тестирования – охват множества технологий, высокая производительность, одновременное тестирование до 32 устройств. EXM обладает высокой скоростью и точностью измерений и большим числом портов, что способствует сокращению времени тестирования и оптимизирует крупносерийное производство. Для ускорения разработки тестов в EXM имеется поддержка новейшей элементной базы сотовых телефонов и беспроводных адаптеров.
18.02.2014 | 1950
Программное обеспечение АМ-1118-SW позволяет выводить на экран компьютера данные измерений с цифрового мультиметра АМ-1118, подключённого к ПК через интерфейс USB. Интерфейс программы предоставляет возможность работы с несколькими режимами отображения результатов измерений одновременно.
17.02.2014 | 2436
Tektronix, Inc., ведущий мировой производитель осциллографов, объявил о выпуске полностью автоматизированного решения для отладки и тестирования оборудования на соответствие недавно обнародованным спецификациям стандарта HDMI 2.0. Решение позволяет проводить основанные на методе прямого синтеза тесты передатчиков, тесты приемников, а также проверять кабели на соответствие тестовым требованиям для получения быстрых, достоверных и точных результатов.
14.02.2014 | 1780
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске новых программных опций для систем тестирования T4010S LTE RF и T4020S LTE RRM. Новые возможности охватывают тестовые сценарии агрегации несущих LTE-Advanced в соответствии с требованиями спецификаций 3GPP.
13.02.2014 | 1879
Начиная с января 2014 г. устройства записи и воспроизведения I/Q данных IQR выпускаются с двумя выходами цифровых I/Q данных. Теперь можно записать сигналы с двух независимых приемников радиочастотного сканера TSMW и затем синхронно воспроизвести их на двух векторных генераторах сигналов.
12.02.2014 | 2479
Благодаря анализатору СВЧ-линий Site Master™ S820E компания Anritsu продолжает удерживать лидирующее положение в секторе портативных приборов для тестирования беспроводных систем связи, которого она достигла более 15 лет назад.
11.02.2014 | 2016
Расширился модельный ряд светодиодных светильников Актаком. В ассортименте светильников Актаком появились две новые модели: АТР-6739 и АТР-6759. В качестве источников света в новых моделях используются 108 ярких светодиода, а в увеличительном блоке применяется прямоугольная линза размером 190 мм х 157 мм с оптической силой 5 диоптрий (для модели АТР-6759) и 3 диоптрии (АТР-6739). Новые светильники обеспечивают надежное крепление к столу благодаря струбцине, а пантографический механизм обеспечивает плавное перемещение и фиксацию светильника.
10.02.2014 | 1902
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске атомно-силового микроскопа (АСМ) 7500 AFM – передового прибора, устанавливающего новые стандарты производительности, функциональности и эргономики для измерений и манипуляций в нанодиапазоне. Agilent 7500 обеспечивает атомарное разрешение за счет использования сканера с диапазоном 90 мкм с обратной связью позиционирования.
Новости 1811 - 1820 из 3296
|
События из истории измерений
20.02.1844
Родился австрийский физик
|