EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Rohde & Schwarz приглашает на VIII-ую Международную отраслевую научно-техническую конференцию “Технологии информационного общества”

Rohde & Schwarz приглашает на VIII-ую Международную отраслевую научно-техническую конференцию “Технологии информационного общества”

20.02.2014

Московское представительство Rohde & Schwarz приглашает Вас 20 и 21 февраля 2014 года посетить VIII-ую Международную отраслевую научно-техническую конференцию “Технологии информационного общества”.

В рамках конференции специалисты компании Rohde & Schwarz выступят с докладом на тему «Оборудование SwissQual - аппаратно-программные комплексы для проведения радиоизмерений, драйв тестов и бенчмаркинга».

Семинар состоится по адресу:
111024, Москва, Авиамоторная 8а
Московский технический университет связи и информатики
Конгресс-центр

Время проведения
c 20 по 21 февраля 2014г. с 10-00 до 19-00

Посмотреть план мероприятия.

Rohde & Schwarz


О компании: Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
24.11.1925
Родился нидерландский физик
Симон ван дер Мер
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.