![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости компаний
Новости 1701 - 1710 из 3296
30.06.2014 | 1528
Новой моделью R&S ZNBT8 компания Rohde&Schwarz расширяет свою линейку многопортовых анализаторов цепей. ZNBT8- это первый в мире векторный анализатор цепей с 24 портами. Этот новый инструмент учитывает потребности в испытаниях многопортовых устройств, как в процессе разработки, так и на производстве.
28.06.2014 | 1952
Компания Agilent Technologies представила первое в отрасли решение для генерации сигналов 4x4 MIMO восходящего канала (далее – UL) стандарта LTE-Advanced, позволяющее инженерам в процессе исследований и разработок проверять приемники базовой станции LTE-А (далее – eNB) при использовании частотного (далее – FDD) и временного (далее – TDD) метода разделения дуплексных каналов. Решение представляет ПО N7624B/25B Signal Studio для LTE/LTE-Advanced FDD/TDD с добавлением поддержки UL 4x4 MIMO.
27.06.2014 | 2825
Компания Rigol выпустила новую серию цифровых осциллографов Rigol MSO1000Z. Новые осциллографы серии MSO1000Z сочетают в себе возможности цифровых осциллографов DS1000Z и DS1000Z-S, среди которых: 4 аналоговых канала, максимальная полоса пропускания до 100 МГц, скорость захвата осциллограмм до 30 000 осц./сек, глубина записи до 12 млн.точек, расширенная система синхронизации, в т.ч. возможность запуска и декодирования (опция) сигналов последовательных шин I2C, SPI, RS-232 и др. Для моделей с индексом -S имеется встроенный двухканальный цифровой генератор сигналов. В добавление к этим функциям в Rigol MSO1000 предусмотрена возможность анализа цифровых сигналов через встроенный 16-ти канальный логический анализатор.
26.06.2014 | 2046
Компания Anritsu представляет широкополосную систему векторного анализа цепей VectorStar™ ME7838E (VNA), обеспечивающую охват диапазона частот от 70 кГц до 110 ГГц в едином коаксиальном тракте.
25.06.2014 | 2269
Модули давления серии 750P идеально подходят для измерения избыточного, дифференциального и абсолютного давления при помощи регистрирующих калибраторов Fluke 750 и 740 и многофункциональных промышленных калибраторов Fluke 725 и 726.
24.06.2014 | 1556
Компания Rohde & Schwarz выпустила новый шестипортовый модуль автоматической калибровки ZN-Z152 в коаксиальном тракте типа SMA с волновым сопротивлением 50Ω в диапазоне частот от 100 кГц до 8,5 ГГц. Как и другие автоматические калибровочные модули, ZN-Z152 в процессе калибровки управляется анализатором цепей через интерфейс USB.
23.06.2014 | 1577
Компания Agilent Technologies подтвердила лидерство в области тестирования на соответствие стандарту LTE-Advanced, представив новейшую версию измерительного приложения для приборов серии X. Это приложение обеспечивает наиболее полное тестирование на соответствие спецификации 3GPP версии 11 для передатчиков стандарта LTE-Advanced с частотным или временным разделением дуплексных каналов. Приложение может использоваться настольными и модульными приборами.
20.06.2014 | 2130
Инновационный векторный анализатор цепей VectorStar ME7838A будет использоваться ведущей лабораторией для разработки стандартов калибровочных мер S-параметров на пластинах.
19.06.2014 | 2084
NI и Nokia увеличит пропускную способность сети и скорость передачи данных 5G.
18.06.2014 | 1742
Компания Rohde&Schwarz анонсировала выпуск новой опции для цифровых осциллографов серии RTM. Режим «Ультра-сегментация» это уникальная возможность для приборов этого класса, позволяющая не только снизить время простоя между двумя циклами захвата сигналов до 5 мкс, но при этом увеличивается максимальный объем памяти при сборе данных до 460 млн. выборок сегментированной памяти.
Новости 1701 - 1710 из 3296
|
События из истории измерений
|