![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости КИПиС
Новости 1281 - 1290 из 1560
05.09.2011 | 2976
В целях содействия формированию Единого экономического пространства, а также в целях расширения сотрудничества на постсоветском пространстве и с Европейским Союзом, Минпромторг России организует совместно с Российским союзом промышленников и предпринимателей, Государственным комитетом по стандартизации Республики Беларусь, Комитетом технического регулирования и метрологии Министерства индустрии и новых технологий Республики Казахстан, Российской академией народного хозяйства и государственной службы при Президенте Российской Федерации и компанией Альянс Консалтинг Инвестмент Групп международную конференцию «Единое экономическое пространство 2020. Техническое регулирование – инструмент интеграции».
02.09.2011 | 3027
8 сентября 2011г. в 15-00 в конференц-зале РСПП состоится заседание Совета по аккредитации. Повестка заседания: Обсуждение проектов федеральных законов «Об аккредитации в Российской Федерации» и «О внесении изменений в отдельные законодательные акты Российской Федерации в связи с принятием Федерального закона «Об аккредитации в Российской Федерации».
01.09.2011 | 4999
Информационно-аналитический Центр Современной Электроники приглашает Вас познакомиться с организацией современного производства электронной аппаратуры. Демонстрация полного цикла производства пройдет в рамках практических занятий семинара «Организация технологической службы производства электронной аппаратуры» на производственном комплексе ПК «Альтоника» в г. Зеленограде 8 сентября на следующий день после семинара.
30.08.2011 | 11349
31-го августа 2011 Tektronix представит революционный осциллограф с функциями, которых вы никогда не видели прежде и мы приглашаем Вас присоединиться к этому эксклюзивному онлайн-мероприятию.
29.08.2011 | 3695
21-25 августа 2011 в Вашингтоне (Caylord National Convention Center, National Harbor, MD, USA) прошел международный симпозиум метрологов, который собрал более 2000 человек.
25.08.2011 | 2728
В Физическом институте им. П.Н.Лебедева (ФИАН) проведен первый эксперимент в новой лаборатории по твердофазному синтезу и росту кристаллов высокотемпературных сверхпроводников.
09.08.2011 | 4387
Комитет по техническому регулированию, стандартизации и оценке соответствия просит дать заключение на вступающее в силу 1 января 2012 г. постановление Правительства РФ от 20 апреля 2010 года № 250 «Об утверждении Перечня средств измерений, поверка которых осуществляется только аккредитованными в установленном порядке в области обеспечения единства измерений государственными региональными центрами метрологии».
22.07.2011 | 2734
Как сообщает РИА Новости, Президент РФ Дмитрий Медведев подписал поправки в 49 федеральных законов, направленные на приведение российского законодательства в сфере технического регулирования в соответствие с международными нормами. Документ опубликован в "Российской газете" от 22 июля и вступает в силу по истечении девяноста дней после дня его официального опубликования.
20.07.2011 | 3995
Издана новая книга Афонского А.А. и Дьяконова В.П. «Измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике» по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий.
18.07.2011 | 7238
Приглашаем посетить 9-й Международный симпозиум и выставку по электромагнитной совместимости и электромагнитной экологии. Симпозиум пройдет с 13 по 16 сентября 2011 в Санкт-Петербурге. Генеральный спонсор мероприятия - компания Rohde & Schwarz.
Новости 1281 - 1290 из 1560
|
События из истории измерений
|