EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новая книга «Измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике»

Новая книга «Измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике»

20.07.2011

Представляем нашим читателям первую в России книгу по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий.

Издана новая книга "Измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике" под авторством Афонского А.А. и Дьяконова В.П. В книге впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих фирм - разработчиков и производителей контрольно-измерительного оборудования: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, Rohde & Schwarz и др. Книга является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. 

Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др.

Новая книга "Измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике" будет интересна и полезна инженерам, научным работникам, аспирантам, преподавателям и студентам вузов и университетов технического и классического типов.



Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
24.11.1925
Родился нидерландский физик
Симон ван дер Мер
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.