EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости КИПиС

RSS

01.03.2014 | 2688
II Научно-практическая конференция молодых ученых, аспирантов и специалистов «Метрология в ХХI веке» Всероссийский научно-исследовательский институт физико-технических и радиотехнических измерений, Совет молодых ученых и специалистов ВНИИФТРИ приглашают Вас принять участие в работе «Научно-практической конференции молодых ученых, аспирантов и специалистов «Метрология в ХХI веке», которая состоится «20» марта 2014г. в г.п. Менделеево (Московская область).
27.02.2014 | 1687
Международная конференция "Техническое регулирование. Стандартизация. Оценка соответствия: достижения, трудности, перспективы" 13 февраля 2014 года в Центре международной торговли (ЦМТ) состоялась Международная конференция "Техническое регулирование. Стандартизация. Оценка соответствия: достижения, трудности, перспективы", на которой обсуждалось сотрудничество Россия - Таможенный союз - ЕС в заявленных областях.
22.02.2014 | 1977
Международная конференция «Стандартизация и надзор за рынком: опыт США и России», г.Хьюстон (США) С 1 по 5 апреля 2014 года Комитет РСПП по техническому регулированию, стандартизации и оценке соответствия совместно с Росстандартом и организациями по стандартизации США проводит конференцию по обмену опытом в области стандартизации и надзора за рынком.
16.02.2014 | 1775
Семинар "Организация службы анализа отказов комплектующих изделий при производстве радиоэлектронной аппаратуры" Семинар будет проведён 27 февраля 2014 в Москве, в гостиничном комплексе "Измайлово-Альфа".
15.02.2014 | 1645
В Государственную Думу внесен проект закона "О внесении изменений в отдельные законодательные акты Российской Федерации в связи с принятием Федерального закона "Об аккредитации в национальной системе аккредитации" Так, законопроектом предусмотрено внесение изменений в федеральные законы «О семеноводстве», «О санитарно-эпидемиологическом благополучии населения», «О техническом регулировании», «О связи», «Об обеспечении единства измерений», «О защите прав юридических лиц и индивидуальных предпринимателей при осуществлении государственного контроля (надзора) и муниципального контроля», «Об организации предоставления государственных и муниципальных услуг», «О техническом регулировании».
09.02.2014 | 1858
Росстандарт уведомляет о начале процедуры формирования нового состава Общественного совета В соответствии с п. 2 приказа Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 30.12.2013 г. № 1537 "Об утверждении положения об Общественном совете при Федеральном агентстве по техническому регулированию и метрологии", Росстандарт уведомляет о начале процедуры формирования нового состава Общественного совета. Порядок формирования Общественного совета указан в разделе 3 Положения об Общественном совете при Федеральном агентстве по техническому регулированию и метрологии.
29.01.2014 | 1968
Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Тестирование полупроводников (Semiconductor Test) Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Тестирование полупроводников (Semiconductor Test).
29.01.2014 | 2881
Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Программное обеспечение/тестирование встраиваемых систем (Software/Embedded test) Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Программное обеспечение/тестирование встраиваемых систем (Software/Embedded test).
28.01.2014 | 1941
Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Сетевое тестирование (Network test) Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Сетевое тестирование (Network test).

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
29.11.1803
Родился австрийский физик
Кристиан Доплер
29.11.1849
Родился английский ученый, изобретатель первой электронной лампы
Джон Амброз Флеминг
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.