|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Тестирование полупроводников (Semiconductor Test)29.01.2014 Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Тестирование полупроводников (Semiconductor Test).
Зондовая станция СМ300 от компании Cascade Microtech
Высокопроизводительная масштабируемая зондовая станция СМ300 представляет сбой надёжную измерительную систему для тестирования полупроводниковых изделий. Станция устанавливает новый стандарт в тестировании 300 мм пластин при температуре от -60°С до +200°С, на данной системе доступны измерения изделий с технологическим процессом 30 нм. Система управляется и находится под контролем специальной программы Velox. Программа осуществляет навигацию и контролирует процесс загрузки пластин и установки температурного режима.
Тестер Nighthawk, LXT-Credence
Тестер полупроводниковых элементов Nighthawk обладает динамическим диапазоном 120дБ и оптимальной пропускной способностью. Тестер способен получать и декодировать широкий спектр схем основной полосы частот.
Архитектура DFTMAX Ultra Compression, компания Synopsys
DFTMAX позволяют разработчику проверять свой проект на тестопригодность на разных стадиях, включая проверку RTL-кода, что помогает исправить ряд нарушений. DFTMAX Compression автоматически создает описание цепочек сканирования и файл протокола, минимизируя усилия разработчиков, направленные на генерацию тестовых векторов.
Система DesignWare STAR, Synopsys
DesignWare STAR – это устройство автоматизированного иерархического тестирования для эффективной проверки SoC систем и структур. Система DesignWare STAR сокращает время тестирования посредством автоматического создания иерархической сети IEEE 1500 для доступа и контроля всех основных услуг IP на уровне SoC. Это обеспечивает простую интеграцию тестовых ресурсов SoC
По материалу EDN Network, www.edn.com |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|